深圳市紫光同创电子有限公司陈逸韬获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市紫光同创电子有限公司申请的专利FPGA电路TILE层级连接检查方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114692537B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210190218.2，技术领域涉及：G06F30/3323；该发明授权FPGA电路TILE层级连接检查方法、装置、电子设备及存储介质是由陈逸韬;张勇;温长清设计研发完成，并于2022-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本FPGA电路TILE层级连接检查方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种FPGA电路TILE层级连接检查方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。本发明提供的FPGA电路TILE层级连接检查方法，包括：获取TILE层级TILEBMA模型中各功能模块及CRAM单元之间的连接关系，根据该连接关系，生成第一连接检查断言文件；获取TILE层级TILENETLIST网表中各功能模块及CRAM单元之间的连接关系，根据该连接关系，生成第二连接检查断言文件；利用所述第一连接检查断言文件先后检查所述TILEBMA模型与所述TILENETLIST网表的连接是否正确，利用所述第二连接检查断言文件先后检查所述TILENETLIST网表与所述TILEBMA模型的是否正确。本发明的FPGA电路TILE层级连接检查方法，提高了TILE层级验证效率。
本发明授权FPGA电路TILE层级连接检查方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种FPGA电路TILE层级连接检查方法，其特征在于，包括如下步骤： 获取TILE层级TILEBMA模型中各功能模块及CRAM单元之间的连接关系，根据该连接关系，生成第一连接检查断言文件； 获取TILE层级TILENETLIST网表中各功能模块及CRAM单元之间的连接关系，根据该连接关系，生成第二连接检查断言文件； 利用所述第一连接检查断言文件先后检查所述TILEBMA模型与所述TILENETLIST网表的连接是否正确，利用所述第二连接检查断言文件先后检查所述TILENETLIST网表与所述TILEBMA模型的是否正确。
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