北京京东方传感技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司姜振武获国家专利权
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龙图腾网获悉北京京东方传感技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司申请的专利平板探测器测试用基板及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114678381B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210317042.2，技术领域涉及：H10D86/40；该发明授权平板探测器测试用基板及其测试方法是由姜振武;张冠;侯学成;杨祎凡;赵镇乾设计研发完成，并于2022-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本平板探测器测试用基板及其测试方法在说明书摘要公布了：本发明实施例公开了一种平板探测器测试用基板及其测试方法，本发明实施例是对整个测试区域的TFT进行特性测试，相比于现有技术中在探测区域外围的周边区域采用TFT测试键Teg进行TFT特性测试，本发明可得到真实有效的AA区TFT的I‑V数据，因此可真实准确的反映出AA区TFT的IV特性，有效的规避了现有技术中Teg区测试数据不准确的问题；并且，本发明实施例中的探测区域仅制作TFT和测试用电压线，测试响应速度更快。
本发明授权平板探测器测试用基板及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种平板探测器测试用基板，其特征在于，包括衬底基板，所述衬底基板具有测试区域以及围绕所述测试区域设置的周边区域，所述测试区域包括位于所述衬底基板上的多条栅线和多条数据线；所述多条栅线和多条数据线交叉限定出多个探测区域，每一所述探测区域包括薄膜晶体管； 还包括位于所述薄膜晶体管远离所述衬底基板一侧的测试用金属层，所述测试用金属层包括多条测试用电压线，所述测试用电压线与所述薄膜晶体管的源极电连接；所述测试用金属层还包括与所述测试用电压线电连接的遮光部，所述遮光部在所述衬底基板上的正投影覆盖所述薄膜晶体管的有源层在所述衬底基板上的正投影，所述测试用电压线与所述遮光部为一体结构。
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