买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉上海纬冉科技有限公司申请的专利进样仓测量方法、装置、计算机设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114965229B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210461693.9，技术领域涉及：G01N15/1429；该发明授权进样仓测量方法、装置、计算机设备和存储介质是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2022-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本进样仓测量方法、装置、计算机设备和存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及进样仓测量方法、装置、计算机设备和存储介质，其中测量装置包括仓本体以及具有一部分设置于仓本体的进样针；还包括光源和探测器。本发明还提供一种进样仓测量方法，包括步骤：计算初始样本体积；计算当前时刻样本体积；计算当前样本运行速度；计算可分选的细胞数量；计算理论分选的细胞总数量。通过设置光源以及探测器，使光源发射的探测光在经过容器以及样本后发生折射或散射现象，根据样本的状态可以获取不同信号强度的探测光，通过上述不同信号强度的探测光、探测器的数量、容器体积等数据可以依次计算出初始样本体积、当前时刻样本体积、当前样本运行速度、剩余样本运行时间、可分选的细胞数量以及理论分选的细胞总数量。

本发明授权进样仓测量方法、装置、计算机设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.进样仓测量方法，其特征在于包括以下步骤： 计算初始样本体积； 计算当前时刻样本体积； 计算当前样本运行速度； 计算可分选的细胞数量； 计算理论分选的细胞总数量； 所述进样仓测量方法还包括判断样本运行结果，所述判断样本运行结果包括步骤如下： 获取第一强度信号计数平均值； 获取第二强度信号计数平均值； 对比第一强度信号计数平均值和第二强度信号计数平均值；若第一强度信号计数平均值等于第二强度信号计数平均值，执行第一结果即样本不混匀；若第一强度信号计数平均值小于第二强度信号计数平均值，执行第二结果，所述第二结果为执行样本部分沉降并开启低速混匀；若第一强度信号计数平均值大于第二强度信号计数平均值，执行第三结果，所述第三结果为开启高速混匀； 其中所述进样仓测量方法应用于进样仓测量装置，该装置包括仓本体； 光源，所述光源设置于仓本体内部的一部分并且用于发射探测光； 探测器，所述探测器设置于仓本体内部的另一部分并且用于接收所述探测光； 所述探测光包括第一探测光，所述第一探测光穿透样本或样本管折射成的光为第二探测光；第二探测光具有第一部分被所述探测器接收，使探测器产生第一强度信号；第二探测光具有第二部分被所述探测器接收，使探测器产生第二强度信号； 第一强度信号表示发射单元发出的第一探测光的数量与穿透样本管形成的第二探测光的数量相同；第二强度信号表示第一探测光的数量大于第二探测光，并且第二探测光中第二探测光第二部分的数量与反射光数量相同。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海纬冉科技有限公司，其通讯地址为：201306 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区海基六路70弄1号408-43、44、45室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。