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龙图腾网获悉合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储设备及其测试方法、测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114974389B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210581391.5，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权一种存储设备及其测试方法、测试系统是由陈剑锋设计研发完成，并于2022-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储设备及其测试方法、测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种存储设备的测试方法，至少包括：提供一存储设备，并根据存储信息的种类，在存储设备中建立数据区域、系统块区域和坏块表映射区域；对数据区域进行第一读写测试，并根据第一读写测试的结果，在数据区域中建立第一坏块区域和工作块区域；调节存储设备的时序信息，并获取工作块区域的读写错误信息，根据读写错误信息，重复调谐存储设备的读写参数信息；根据读写参数信息，对工作块区域和系统块区域进行第二读写测试，并根据第二读写测试的结果，在工作块区域和系统块区域内标记出第二坏块区域；以及获取第一坏块区域和第二坏块区域的坏块信息，并将坏块信息记录于坏块表映射区域。本发明能够快速且稳定地筛选出存储设备中的坏块。

本发明授权一种存储设备及其测试方法、测试系统在权利要求书中公布了：1.一种存储设备的测试方法，其特征在于，至少包括： 提供一存储设备，并根据存储信息的种类，在所述存储设备中建立数据区域、系统块区域和坏块表映射区域； 对所述数据区域进行第一读写测试，并根据所述第一读写测试的结果，在所述数据区域中建立第一坏块区域和工作块区域； 调节所述存储设备的时序信息，并获取所述工作块区域的读写错误信息，根据所述读写错误信息，重复调谐所述存储设备的读写参数信息，其中调谐所述存储设备的读写参数信息的步骤包括： 以单倍数据速率对所述工作块区域写入数据，再以双倍数据速率从所述工作块区域读出数据；以及 根据读写数据产生的错误校正码，校正读取阶段的时序信息，获得最优读取时序信息； 调整所述存储设备的时序信息为所述最优读取时序信息，并以双倍数据速率向所述工作块区域写入数据；以及 从所述工作块区域读出数据，并根据读写数据产生的错误校正码，校正写入阶段的时序信息，获得最优写入时序信息； 根据所述读写参数信息，对所述工作块区域和所述系统块区域进行第二读写测试，并根据第二读写测试的结果，在所述工作块区域和所述系统块区域内标记出第二坏块区域；以及 获取所述第一坏块区域和所述第二坏块区域的坏块信息，并将所述坏块信息记录于所述坏块表映射区域。

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