深圳市度信科技有限公司聂忠强获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市度信科技有限公司申请的专利基于正负电压的芯片管脚开短路测试装置与方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115097287B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210720788.8,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权基于正负电压的芯片管脚开短路测试装置与方法是由聂忠强;邹欢腾设计研发完成,并于2022-06-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于正负电压的芯片管脚开短路测试装置与方法在说明书摘要公布了:本申请涉及基于正负电压的芯片管脚开短路测试装置与方法,其装置包括待测芯片、恒流限压源、测试二极管、开关矩阵与电压采集电路。恒流限压源供电提供合适的电压与电流,开关矩阵中对应待测管脚的开关闭合,电流流通,由于存在有管脚对应的测试二极管作为负载导致产生压降,电压采集电路采集在测试过程中所产生的压降,通过压降判断管脚的状态,以判断待测芯片的管脚是开路、短路还是正常,使能对待测芯片每一管脚均进行测量,以对芯片进行封装后的检测。
本发明授权基于正负电压的芯片管脚开短路测试装置与方法在权利要求书中公布了:1.一种基于正负电压的芯片管脚开短路测试装置,其特征在于,包括: 待测芯片,所述待测芯片包括电源管脚、接地管脚与待测管脚,所述电源管脚设置为P点,所述接地管脚设置为N点; 恒流限压源,用于在测试过程中提供可限制的电压与恒定的电流,所述电压的限压值与所述电流的恒流值均针对不同所述待测芯片进行设置; 测试二极管,连接所述待测芯片的所述待测管脚、P点与N点,用于作为测量所述待测管脚的负载; 开关矩阵,用于对不同所述测试二极管的通断进行控制,包括对应每一所述测试二极管的开关,每一所述开关分别连接所述恒流限压源与所述测试二极管,通过不同所述开关的组合实现对不同所述测试二极管的通断,所述待测芯片的所述P点连接所述开关矩阵,所述待测芯片的所述N点共地; 电压采集电路,用于采集所述恒流限压源在测试过程中所产生因所述测试二极管作为负载产生的压降,通过所述压降判断所述待测管脚的状态; 其中,所述测试二极管包括上端二极管、下端二极管与电源二极管; 所述上端二极管用于在测量所述待测芯片时作为上端负载,所述上端二极管的两端分别连接所述待测芯片的待测管脚与所述P点; 所述下端二极管用于在测量所述待测芯片时作为下端负载,所述下端二极管的两端分别连接所述待测芯片的待测管脚与N点; 所述电源二极管用于在测量所述待测芯片时作为电源端负载,所述电源二极管的两端连接所述N点与所述P点; 其中,所述恒流限压源包括: 正电压恒流限压源,用于为在所述待测管脚到所述P点的所述测试二极管进行供电; 负电压恒流限压源,用于为在所述待测管脚到所述N点的所述测试二极管进行供电,且为所述P点到所述N点的所述测试二极管进行供电; 所述正电压恒流限压源的G端为负端,所述负电压恒流限压源的G端为正端。
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