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龙图腾网获悉哈尔滨工程大学申请的专利无模糊测向非均匀阵列设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115544942B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211130090.7，技术领域涉及：G06F30/392；该发明授权无模糊测向非均匀阵列设计方法是由司伟建;梁义鲁;邓志安;刘睿智;张春杰;侯长波;万晨霞设计研发完成，并于2022-09-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本无模糊测向非均匀阵列设计方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种无模糊测向非均匀阵列设计方法，是一种基于计算机合理遍历设计无模糊高精度的非均匀测向阵列方法。首先计算出实际情况时所有可能合理的非均匀阵列形式；对这些非均匀阵列利用MUSIC算法在高频率易模糊频点上进行测试，测试时可加入可能引起测角模糊的因素，如通道不一致性等。对每种阵列形式进行多次蒙特卡洛实验，计算测角均方根误差，根据测试结果选择均方根误差较小的阵列形式；选定形式后，验证在所要求的测角范围内是否能够实现无模糊高精度测角。若一次选定不能符合要求，则再次选择其他均方根误差小的阵列形式，再次测试，直到达到设计要求。本发明可将影响测角模糊的因素考虑在阵列设计中，设计方式可靠，具有良好的应用前景。

本发明授权无模糊测向非均匀阵列设计方法在权利要求书中公布了：1.无模糊测向非均匀阵列设计方法，其特征在于，步骤如下： 步骤1：根据阵列孔径及阵元数，计算天线相邻阵元可以达到的最小间距与最大间距； 步骤2：根据步骤1得到的相邻间距范围，确定阵元移动步长，以确保与实际情况相符； 步骤3：对步骤2中的阵元移动步长，确定所有可能的阵元摆放形式； 步骤4：根据所要求测角频率范围，确定最高频率，根据测角精度，确定角度步进间隔，以达到测角精度要求； 步骤5：利用步骤4所得到的参数进行蒙特卡洛实验，使用MUSIC算法测试步骤3中所有阵列形式在最高频率情况下，在某一角度下进行100次蒙特卡洛实验，得到所有阵列的测角均方根误差； 步骤6：对于步骤5的测角结果，选择步骤3中所有阵列摆放形式中，测角均方根误差较小的阵列形式之一； 步骤7：根据步骤6所得阵列摆放形式，验证在测角范围内此阵列形式是否存在测角模糊，以及能否达到精度要求，若达到要求，步骤6所得阵列即为所得满足测向要求的非均匀阵列，若不满足则重复步骤6、7，直到找到满足要求的阵列。

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