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龙图腾网获悉国网安徽省电力有限公司电力科学研究院申请的专利一种基于检测平台的混合绝缘气体放电故障分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116106667B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310088542.8，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种基于检测平台的混合绝缘气体放电故障分析方法是由刘伟;韩冬;朱姗;董王朝设计研发完成，并于2023-02-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于检测平台的混合绝缘气体放电故障分析方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于检测平台的混合绝缘气体放电故障分析方法，平台包括：两个绝缘气体气瓶、高压发生器、气相色谱‑质谱联用仪、光谱仪、放电模拟腔体，腔体中设置有放电电极，所述方法包括：对模拟腔体进行抽真空处理；根据实际应用比例和压力向模拟腔体内充入SF6和N2混合气体；高压发生器对放电电极进行阶梯式施加工频交流电压，在每一加压梯度持续时间内监测模拟腔体内是否出现放电信号，在每一加压梯度完毕后使用气相色谱‑质谱联用仪对混合绝缘气体进行取样检测；当模拟腔体内出现放电信号时判断放电程度：本发明通过将两种不同检测方法的特征信号相融合，互为补充，从而提高电气设备局部放电信号捕获和识别的置信度。

本发明授权一种基于检测平台的混合绝缘气体放电故障分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于检测平台的混合绝缘气体放电故障分析方法，所述检测平台包括：存放SF6和N2绝缘气体的两个绝缘气体气瓶、高压发生器、气相色谱-质谱联用仪和光谱仪、放电模拟腔体，腔体中设置有放电电极，放电电极接线端从腔体外壳密封引出连接高压发生器的一个输出端，高压发生器的另一个输出端连接腔体外壳，在腔体外壳设置有气体引入接口，气体引入接口连接一个气体总管，两个绝缘气瓶的输出接口分别通过气体输出控制阀门连接气体总管，在气体总管上通过真空抽取控制阀门还连接一个真空泵，在气体总管上通过检测阀门连接所述气相色谱-质谱联用仪，在腔体外壳上设置有光纤探头，光纤探头通过光纤连接所述光谱仪；其特征在于，所述放电故障分析方法步骤包括： 一，对模拟腔体进行抽真空处理； 二，根据实际应用比例和压力向模拟腔体内充入SF6和N2混合气体； 三，高压发生器对放电电极进行阶梯式施加工频交流电压，光谱仪在每一加压梯度持续时间内监测模拟腔体内是否出现放电信号，在每一加压梯度完毕后使用气相色谱-质谱联用仪对混合绝缘气体进行取样检测； 四，当模拟腔体内出现放电信号时判断放电程度： a，使用气相色谱-质谱联用仪通过与标准质谱图库的标准气体比对获取SO2、SOF2和SO2F2气体，所述SO2、SOF2和SO2F2气体是SF6N2混合气体放电时产生的分解气体，根据公式1计算各分解气体组分的含量； Ci=SiSI×CI公式1 其中： Si为绝缘气体分解气体组分的特征质荷比对应的峰面积， SI为该待求组分的标准气体的同一特征质荷比对应的峰面积， CI为该待求组分的标准气体含量，Ci为该待求组分的含量； 当局放起始电压降低时，由于SO2F2的相对含量将增大，而SO2+SOF2的相对含量降低；相反地，放电程度加深时，SO2+SOF2的相对含量增大，SO2F2的相对含量降低；因此；从定量角度上SO2+SOF2SO2F2的比值受施加电压和局部起始放电电压的直接影响；根据公式2将SO2+SOF2SO2F2的含量比值R g 作为体现放电强度的指标； R g =c[SO2+SOF2]c[SO2F2]公式2 其中，c[SO2+SOF2]为SO2和SOF2气体的含量之和；c[SO2F2]为SO2F2的含量； b，使用光谱仪在放电早期阶段对应N2气体的辐射跃迁时光谱强度最大值出现在波长336.9nm处获取N2气体的光谱强度，对应NO气体的辐射跃迁时光谱强度最大值出现在波长239.7nm处获取NO气体的光谱强度，对应氮离子N+的辐射跃迁时光谱强最大值出现在波长500.7nm处获取氮离子N+的光谱强度，按照公式3将这3个特征波长处的光谱强度分量进行归一化处理，分别记为R 1 ,R 2 和R 3 ，作为判断放电程度的一个指标，即，放电阶段对应的波长336.9nm、239.7nm和500.7nm处的光谱强度与三者光谱强度的总和指标，如果336.9nm处的R 1 占比最高，则放电处于初始阶段；如果239.7nm处的R 2 占比最高，则放电处于发展阶段；如果500.7nm处的R 3 占比最高，则放电已非常严重； 公式3 其中： R i 为特征波长处的光谱强度归一化值； I i 为特征波长处的光谱强度值； c，根据波长200-380nm为紫外波段、380-780nm为可见光波段、780-980nm为近红外波段获取模拟腔体内的紫外波、可见光波、近红外波信号，利用公式4计算获取各波段的光子数， 公式4 通过对比：根据放电早期紫外波段的光子数占优，放电发展阶段可见光波段的光子数占优，随着放电缺陷程度的加深，在200-780nm范围内，紫外波段的光子比例逐渐减小，可见光波段的光子比例逐渐增加形成的聚类分布判断放电缺陷程度； d，判断：当波长500.7nm处的R 3 占比最高，可见光波段光子比例高于紫外光波段光子，且R g 2时，则局部放电已非常严重，随时会发生击穿放电，应引起注意并预警。

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