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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种基于多向检测的磁光成像表面缺陷轮廓重建方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116402909B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310330498.7，技术领域涉及：G06T11/00；该发明授权一种基于多向检测的磁光成像表面缺陷轮廓重建方法是由李胜平;张杰;宋松;白利兵设计研发完成，并于2023-03-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于多向检测的磁光成像表面缺陷轮廓重建方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于多向检测的磁光成像表面缺陷轮廓重建方法，通过磁光成像检测设备在线检测并采集铁磁材料表面缺陷信息，并根据提取的缺陷信号建立磁场强度分布矩阵；然后通过计算物理模型正演的信号对被测件表面磁阻分布的偏导，建立灵敏度矩阵；接着引入迭代反演方法，通过对磁场分布信号进行反演，得到磁阻分布数据，实现了缺陷轮廓的高精度重构，操作简单，与传统的缺陷轮廓重构方法相比，在精度上具有明显的优势。

本发明授权一种基于多向检测的磁光成像表面缺陷轮廓重建方法在权利要求书中公布了：1.一种基于多向检测的磁光成像表面缺陷轮廓重建方法，其特征在于，包括以下步骤： 1、使用MOI磁光成像技术采集被测试件在多个磁化方向上的漏磁图像，记为M1,M2,…,Md,…,MN，其中，Md表示第d个方向上采集到的漏磁图像，N为采集漏磁图像的方向个数，每张漏磁图像的大小为m×n； 将每个方向上采集到的漏磁图像先转化为一维向量，再构建矩阵λ： 其中，vd表示漏磁图像Md转化后的一维向量； 2、构建一个大小为m×n的零矩阵g0，g0中的每个元素值表示初始磁阻大小； 3、设置迭代次数k，初始化k＝1；设置阈值e；设置第d个方向上从磁阻矩阵到磁场分布矩阵的正演变换函数Fdg； 4、在第k次迭代中，将矩阵gk-1中i,j处在第d个方向上的磁阻由Rbefore改为Rafter，其余位置处的磁阻保持不变，得到第d个方向上修改后的磁阻分布其中，Rbefore表示修改前的磁阻，Rafter表示修改后的磁阻；将磁阻分布代入正演变换函数，得到第d个方向上的磁场分布 5、在第d个方向上计算被测试件在i,j处产生的磁场分布变化率 其中，表示第d个方向上所有像素点的磁电阻为Rbefore时的磁场分布； 6、按照步骤4和5，在不同磁化方向上计算被测试件在各个像素位置处产生的磁场分布变化率； 7、构建第k次迭代后的灵敏度矩阵Sk-1： 8、构建第k次迭代后的磁场分布矩阵λk-1： 9、将灵敏度矩阵Sk-1和磁场分布矩阵λk-1带入磁阻的迭代方程： 其中，上标T表示转置，β为常数，E表示大小为m×n行、m×n列的单位矩阵； 10、将迭代结果由一维向量转化为m行、n列的矩阵Δg1，再对Δg1进行分割，得到更新后的反演结果Δg； 11、计算第k次迭代结果gk＝gk-1+Δg，再将gk中大于1的值变为1，小于0的值变为0，从而得到第k次迭代后的最终结果gk； 12、判断是否成立，如果成立，则进入步骤11；否则，令k＝k+1，然后返回步骤4进行下一轮迭代； 13、输出磁阻分布矩阵g＝gk，然后将g转化为图像，从而完成缺陷轮廓重构。

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