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龙图腾网获悉华南师范大学申请的专利一种用于双通道定量FRET显微成像的重影矫正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117011170B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310819947.4，技术领域涉及：G06T5/77；该发明授权一种用于双通道定量FRET显微成像的重影矫正方法是由胡敏;王硕;陈同生设计研发完成，并于2023-07-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于双通道定量FRET显微成像的重影矫正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于双通道定量FRET显微成像的重影矫正方法，包括以下步骤：S1、根据所使用双通道中分光二向色镜及光路参数计算重影的平均偏移量；S2、双通道显微镜采集图像；S3、判断图像是否为反射通道所采集；如果不是，则输出图像；如果是，则获取图像数据并进入步骤S4；S4、绘制图像强度分布直方图，确定背景值，针对每一像素位置分别寻找定位左侧与右侧重影位置，计算细胞区域与左侧、右侧重影区域的强度比例；S5、采用重影矫正算法进行矫正；S6、将矫正后图像转换为十六位深度，输出图像。本发明方法针对单套筒透镜的双通道宽场荧光显微镜进行了重影矫正，解决了系统带来的重影问题，提升了成像质量；同时提高了定量FRET分析的准确性。

本发明授权一种用于双通道定量FRET显微成像的重影矫正方法在权利要求书中公布了：1.一种用于双通道定量FRET显微成像的重影矫正方法，其特征在于，基于双通道FRET定量显微成像系统，包括以下步骤： S1、根据所使用双通道中分光二向色镜及光路参数计算重影的平均偏移量； S2、双通道显微镜采集图像； S3、判断图像是否为反射通道所采集；如果不是，则输出图像；如果是，则获取图像数据并进入步骤S4； S4、绘制图像强度分布直方图，确定背景值，针对每一像素位置分别寻找定位左侧与右侧重影位置，计算细胞区域与左侧、右侧重影区域的强度比例； S5、采用重影矫正算法进行矫正； S6、将矫正后图像转换为十六位深度，输出图像； 步骤S1中，根据所使用双通道中分光二向色镜及参数计算具体为： 根据折射定律，一束光线经过二向色镜中不断反射的出射光线在相机靶面上的距离为dx，dx表示为： 其中，n1为入射光所在介质的折射率，n2为折射光所在介质的折射率，θ为光线的入射角，L为二向色镜的厚度； 根据显微镜中采用的套筒透镜及其光路参数，得到入射角θ的范围，结合dx的计算公式，以一个预设角度为步进进行计算，得到dx的平均值 步骤S3中，获取图像数据后还包括： 将相机探测到的灰度图像数据的二维数组转换成double类型进行运算； 步骤S4中，确定背景值的方法具体为： 对图像数据的灰度值分布进行统计，横坐标为频率，纵坐标为灰度值，经过逐像素统计后，把第一个峰的峰值设为背景值； 针对每一像素位置分别寻找定位左侧与右侧重影位置的方法为： 每个像素在二维数组中都对应一个坐标，根据计算得出的进行左右侧坐标的转换，左侧重影设为A区域，右侧重影设为B区域； 计算细胞区域与左侧、右侧重影区域的强度比例，具体为： 通过实验的方法，统计不同荧光样本的重影图片，在细胞区域中圈出一个区域，该区域的灰度值均值定义为IO；根据对区域进行平移，找到左侧重影区域，左侧重影区域的灰度值均值定义为IA，找到右侧重影区域，右侧重影区域的灰度值均值定义为IB，最后根据以下公式进行计算： t1＝IOIA t2＝IOIB 其中，t1表示细胞区域与左侧重影区域的强度比例，t2表示细胞区域与右侧重影区域的强度比例； 根据不同荧光样本图片求出的t1和t2，再求均值得到最终的重影强度比例； 步骤S5中，重影矫正过程表示为： gx,y＝T[fx,y] 其中，gx,y表示矫正重影后的图像中坐标为x,y的像素的灰度值；fx,y表示图像中坐标为x,y的像素的灰度值；T表示重影矫正算法： 其中，M和N表示大小为M*N的图像的横向和纵向的像素数目，单位为像素。

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