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龙图腾网获悉天津大学申请的专利用于掠入射X射线散射表征的原位变温拉伸装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119000747B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411161139.4，技术领域涉及：G01N23/20；该发明授权用于掠入射X射线散射表征的原位变温拉伸装置及测试方法是由叶龙;李赛萌;孙纯龙;冯锦涛;吴俊江设计研发完成，并于2024-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于掠入射X射线散射表征的原位变温拉伸装置及测试方法在说明书摘要公布了：本申请涉及薄膜测试技术领域，公开一种用于掠入射X射线散射表征的原位变温拉伸装置及测试方法，该装置包括动力组件、底座、滑轨、支撑组件和加热组件，滑轨设置于底座的上端；支撑组件包括第一平台支撑、第二平台支撑，第一平台支撑的上端设置第一压片，第二平台支撑的上端设置第二压片和拉力传感器，第一平台支撑和第二平台支撑均活动设置于滑轨上，第一压片与第二压片配合以固定薄膜样品，第一平台支撑和第二平台支撑与动力组件连接；加热组件设置于底座且位于第一平台支撑和第二平台支撑之间。本申请为各类功能薄膜在拉伸条件下的原位结构演化提供有价值的信息，也可以表征功能薄膜在单轴拉伸下的分子堆积结构的温度依赖性。

本发明授权用于掠入射X射线散射表征的原位变温拉伸装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种用于掠入射X射线散射表征的原位变温拉伸方法，其特征在于，基于一种用于掠入射X射线散射表征的原位变温拉伸装置，包括： 动力组件； 底座； 滑轨，所述滑轨设置于所述底座的上端； 支撑组件，包括第一平台支撑、第二平台支撑、第一压片、第二压片和拉力传感器，所述第一平台支撑的上端设置所述第一压片，所述第二平台支撑的上端设置所述第二压片和所述拉力传感器，所述第一平台支撑和第二平台支撑均活动设置于所述滑轨上，所述第一压片与所述第二压片配合以固定薄膜样品，所述第一平台支撑和第二平台支撑与所述动力组件连接，在所述动力组件的作用下，所述第一平台支撑和第二平台支撑沿所述滑轨相向或相背运动；所述薄膜样品包括基底以及沉积于所述基底上的功能薄膜，所述基底为弹性体薄膜； 加热组件，所述加热组件设置于所述底座且位于所述第一平台支撑和第二平台支撑之间； 所述方法包括： 以弹性体薄膜作为基底，在所述基底上沉积功能薄膜，得到薄膜样品； 将所述薄膜样品固定于支撑组件的上端； 利用X射线照射薄膜样品，设置拉伸应变和温度，得到不同应力场和或不同温度场下的薄膜结构演变的原位信息； 利用X射线照射薄膜样品，设置拉伸应变和温度，得到不同应力场和或不同温度场下的薄膜结构演变的原位信息，包括： 令拉伸应变分别为0％、5％、10％、20％、30％、40％、50％、80％和100％，每次调整拉伸应变时，底座旋转90°，得到垂直和平行于拉伸方向的两个X射线入射方向的堆积结构差异；在每个拉伸应变下，以设定参数控制X射线照射薄膜样品，得到不同应力场下的薄膜结构演变的原位信息； 在固定拉伸应变的情况下，令温度在40℃、50℃、60℃、70℃、80℃和90℃之间变化，每次调整温度时，底座旋转90°，在每个温度下，以设定参数控制X射线照射薄膜样品，得到在设定应力场下不同温度场的薄膜结构演变的原位信息； 通过如下方法制备薄膜样品： 对硅片进行超声波清洗，并将硅片依次在异丙醇、蒸馏水、丙酮、异丙醇中浸泡； 浸泡后的硅片进行紫外线臭氧改性； 将十八烷基三氯硅烷OTS与甲苯混合，形成OTS-甲苯溶液，利用OTS-甲苯溶液覆盖改性后的硅片，清洗、退火，得到经OTS修饰的硅衬底； 将弹性体颗粒溶于甲苯中，形成弹性体溶液； 将弹性体溶液倒于经OTS修饰的硅衬底上成膜，干燥得到弹性体基底； 在弹性体基底上沉积功能薄膜，得到薄膜样品。

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