中电科申泰信息科技有限公司高文研获国家专利权
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龙图腾网获悉中电科申泰信息科技有限公司申请的专利一种基于单片FPGA的多芯片测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118746746B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411226519.1，技术领域涉及：G01R31/319；该发明授权一种基于单片FPGA的多芯片测试系统是由高文研;魏江杰;苏文虎;潘志浩设计研发完成，并于2024-09-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于单片FPGA的多芯片测试系统在说明书摘要公布了：本发明属于集成电路测试技术领域，特别涉及一种基于单片FPGA的多芯片测试系统。可编程逻辑控制器FPGA包括：控制核心；一主多从仲裁器，一主多从仲裁器的主端输入端与其中一个控制核心相连；多主多从仲裁器，多主多从仲裁器的主端输入端与另外的控制核心一一对应相连，且一主多从仲裁器的从端输出端分别与多主多从仲裁器的主端输入端相连；控制逻辑，控制逻辑与多主多从仲裁器的从端输出端相连，且控制逻辑通过IO管脚与待测芯片相连；地址分配逻辑，地址分配逻辑为每个控制核心预先定义一组唯一地址空间。本发明充分利用FPGA的并行处理能力，可实现5个及5个以上的控制核心的同时运行，能满足多个待测芯片的高性能测试场景要求。
本发明授权一种基于单片FPGA的多芯片测试系统在权利要求书中公布了：1.一种基于单片FPGA的多芯片测试系统，依托测试平台上的可编程逻辑控制器FPGA，其特征在于，所述可编程逻辑控制器FPGA包括： 控制核心，所述控制核心的数量能够根据参与测试的待测芯片数量进行扩展为多个； 一主多从仲裁器，所述一主多从仲裁器的主端输入端与其中一个所述控制核心相连； 多主多从仲裁器，所述多主多从仲裁器的主端输入端与另外的所述控制核心一一对应相连，且所述一主多从仲裁器的从端输出端分别与所述多主多从仲裁器的主端输入端相连； 控制逻辑，所述控制逻辑与所述多主多从仲裁器的从端输出端相连，且所述控制逻辑通过IO管脚与待测芯片相连； 地址分配逻辑，所述地址分配逻辑为每个所述控制核心预先定义一组唯一的地址空间；多个所述控制核心通过使用所述一主多从仲裁器和多个所述多主多从仲裁器进行路由，使所述控制核心能够访问指定的地址空间。
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