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龙图腾网获悉光宏光电技术(深圳)有限公司申请的专利基于MiniLED显示的异常环境芯片稳定性测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119689208B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411858182.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于MiniLED显示的异常环境芯片稳定性测试方法是由陈孟财;杨海军设计研发完成，并于2024-12-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于MiniLED显示的异常环境芯片稳定性测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于MiniLED显示的异常环境芯片稳定性测试方法。方法包括：获取功耗数据序列中的各个功耗数据的第一可信度和第二可信度，根据第一可信度和第二可信度，得到各个功耗数据的可信度加权因子，根据功耗数据的可信度加权因子，对所有的功耗数据序列进行加权融合，得到目标数据序列；根据目标数据序列，获取异常测试环境下待测试批次芯片的稳定性测试结果。本发明依据可信度加权因子进行加权融合所得到的目标数据序列，能够使得所获取的异常测试环境下待测试批次芯片的稳定性测试结果更加准确和可靠。

本发明授权基于MiniLED显示的异常环境芯片稳定性测试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于MiniLED显示的异常环境芯片稳定性测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤： 在待测试批次芯片中选取A个测试芯片，并对每个测试芯片进行高压加速老化测试，得到异常测试环境下每个测试芯片对应的功耗数据序列，A大于1； 获取所述功耗数据序列中的各个功耗数据对应的局部子序列，并分别对所述功耗数据序列和所述各个功耗数据对应的局部子序列进行线性拟合，得到所述功耗数据序列的第一拟合直线和所述各个功耗数据的第二拟合直线，根据所述第一拟合直线和所述第二拟合直线，得到所述各个功耗数据的第一可信度； 根据所述功耗数据序列中的各个功耗数据的相邻功耗数据以及所述局部子序列中的相邻两个功耗数据之间的差值，得到所述各个功耗数据的波动性指标值，根据所述功耗数据序列中的功耗数据以及所述各个功耗数据的波动性指标值，得到所述各个功耗数据的第二可信度； 根据所述第一可信度和第二可信度，得到所述各个功耗数据的可信度加权因子，根据所述功耗数据的可信度加权因子，对所有的所述功耗数据序列进行加权融合，得到目标数据序列； 根据所述目标数据序列，获取所述异常测试环境下所述待测试批次芯片的稳定性测试结果。

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