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龙图腾网获悉中国科学院空天信息创新研究院申请的专利一种高光谱反射率数据的水分影响去除方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119624826B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510167806.8，技术领域涉及：G06T5/70；该发明授权一种高光谱反射率数据的水分影响去除方法是由张霞;黄长平;李儒;王为昊;张立福;丁松滔设计研发完成，并于2025-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高光谱反射率数据的水分影响去除方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种高光谱反射率数据的水分影响去除方法，涉及高光谱遥感技术领域，方法包括：根据噪声大小对获取的地物自然状态下的原始高光谱反射率数据进行光谱去噪预处理，得到目标高光谱反射率数据；基于目标高光谱反射率数据计算涉及短波红外波段的水分因子；以水分因子组成的矩阵为参考矩阵，从目标高光谱反射率数据对应的光谱数据矩阵中去除与参考矩阵相关的信息特征，得到校正光谱数据，并将校正光谱数据与标准光谱库进行相关性计算，得到去除水分影响后的最终校正光谱。本申请能够在保持地物光谱固有特性、且无需依赖外部的实测辅助数据的基础上对高光谱反射率数据进行水分去除，提升后续光谱应用模型的适用性。

本发明授权一种高光谱反射率数据的水分影响去除方法在权利要求书中公布了：1.一种高光谱反射率数据的水分影响去除方法，其特征在于，所述方法包括： 获取地物自然状态下的原始高光谱反射率数据； 根据噪声大小对所述原始高光谱反射率数据进行光谱去噪预处理，得到目标高光谱反射率数据； 基于所述目标高光谱反射率数据计算涉及短波红外波段的水分因子； 以所述水分因子组成的矩阵为参考矩阵，从所述目标高光谱反射率数据对应的光谱数据矩阵中去除与所述参考矩阵相关的信息特征，得到校正光谱数据，并将所述校正光谱数据与标准光谱库进行相关性计算，得到去除水分影响后的最终校正光谱； 所述从所述目标高光谱反射率数据对应的光谱数据矩阵中去除与所述参考矩阵相关的信息特征，得到校正光谱数据，包括： 采用奇异值分解算法从所述目标高光谱反射率数据对应的光谱数据矩阵中提取出特征分量； 构建所述光谱数据矩阵在所述参考矩阵的正交方向上的投影矩阵； 将所述特征分量在所述投影矩阵中进行特征映射，得到校正光谱数据； 所述基于所述目标高光谱反射率数据计算涉及短波红外波段的水分因子，包括： 确定对水分含量具有敏感度的短波红外波段； 针对所述目标高光谱反射率数据，根据所述短波红外波段，分别计算短波红外水分胁迫指数、归一化短波红外水分指数以及可见光与短波红外干燥指数，作为水分因子。

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