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龙图腾网获悉安徽大学申请的专利双通道TIADC采样时刻失配误差估计及校准方法、装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120150702B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510204239.9，技术领域涉及：H03M1/10；该发明授权双通道TIADC采样时刻失配误差估计及校准方法、装置是由李鑫;苗梦迪;潘莹;潘震;刑欣;彭春雨;蔺智挺;吴秀龙设计研发完成，并于2025-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本双通道TIADC采样时刻失配误差估计及校准方法、装置在说明书摘要公布了：本发明具体公开了双通道TIADC采样时刻失配误差估计及校准方法、装置，涉及高速模数转换技术领域。本发明的方法一方面对作为基准的子模数转换器的输出信号进行数据变换，另一方面对被校准的子模数转换器的输出信号进行失配延迟，再将变换后的信号虚部与延迟后的信号进行相乘进而求均值，之后进行估计参数的迭代、失配参数的调整以得到更合适的失配参数来进行下一轮校准；这样通过多轮校准的方式有效地从双通道TIADC的输出信号中估计出采样时刻失配误差τ、进而实现校准。本发明能够准确地估计出采样时刻失配误差τ，从而有效地抑制采样时刻失配时钟偏斜引起的杂散信号，提高系统的动态性能，减少因采样时刻失配导致的信号失真。

本发明授权双通道TIADC采样时刻失配误差估计及校准方法、装置在权利要求书中公布了：1.一种双通道TIADC采样时刻失配误差估计及校准方法，其用于以Sub_ADC1作为基准来估计及校准Sub_ADC2的采样时刻失配τ；Sub_ADC1、Sub_ADC2表示双通道TIADC的2个子模数转换器；其特征在于，其包括： 以Ts为一个周期，周期性多次获取Sub_ADC1、Sub_ADC2的输出信号；其中，Ts表示双通道TIADC的采样周期； 基于获取的y1,i[n]、y2,i[n]进行第i轮校准；其中，y1,i[n]、y2,i[n]分别表示Sub_ADC1、Sub_ADC2第i次的输出信号；n∈[0,N]；N表示单个子模数转换器每次输出信号所使用的采样点总个数；n表示N中第n个采样点；i≥1； 其中，第i轮校准的方法包括： S100，对y1,i[n]进行数据转换，以得到包含推迟了90°相位信息的虚部Im_y1,i[n]； 依据第i轮的失配参数C_τi对y2,i[n]进行数字校正以使信号相位整体延迟C_τi，得到校正后的输出信号y2_call,i[n]； S200，将Im_y1,i[n]乘以y2_call,i[n]以得到相乘结果pi[n]； S300，计算pi[0]～pi[N]的均值avgi； S400，将avgi作为迭代参数、并对第i-1轮的估计参数C_erri-1进行迭代，以得到第i轮的估计参数C_erri； S500，将C_erri加上Ts以得到第i+1轮的失配参数C_τi+1； 其中，若C_τi已收敛，则校准完成、并将C_erri作为τ以校准Sub_ADC2的输出信号；否则校准未完成、并进行第i+1轮校准。

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