苏州元脑智能科技有限公司王嵩凯获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利信号完整性测试方法、电子设备、存储介质及产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119903799B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510392620.2,技术领域涉及:G06F30/333;该发明授权信号完整性测试方法、电子设备、存储介质及产品是由王嵩凯;胡倩倩设计研发完成,并于2025-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本信号完整性测试方法、电子设备、存储介质及产品在说明书摘要公布了:本申请公开了一种信号完整性测试方法、电子设备、存储介质及产品,涉及计算机辅助工程技术领域,包括获取电子设备中印刷电路板组件的功率密度分布信息;将功率密度分布信息输入到电子设备的散热模型中,获取电子设备在工作状态下印刷电路板组件的温度场数据;基于温度场数据,确定印刷电路板组件中材料参数,并基于材料参数,确定电子设备通过印刷电路板传输信号的质量数据,解决了温度场数据不准确导致信号完整性测试不准确的技术问题,达到了提高印刷电路板组件信号完整性测试精度的技术效果。
本发明授权信号完整性测试方法、电子设备、存储介质及产品在权利要求书中公布了:1.一种信号完整性测试方法,其特征在于,包括: 获取电子设备中印刷电路板组件的功率密度分布信息; 将所述功率密度分布信息输入到所述电子设备的散热模型中,获取所述电子设备在工作状态下所述印刷电路板组件的温度场数据; 基于所述温度场数据,确定第一预设区域的温度场数据; 建立电磁信号和散热的双向耦合仿真模型并确定所述双向耦合仿真模型对应的网格单元;其中,所述双向耦合仿真模型指的是同时考虑电磁信号和散热的仿真模型; 将所述第一预设区域的温度场数据分配至所述双向耦合仿真模型对应的网格单元,得到每个网格单元内的温度场数据; 基于所述每个网格单元的温度场数据,从预设温变映射关系中确定与所述每个网格单元的温度场数据对应的所述印刷电路板组件中材料参数,并基于所述材料参数的性能损耗,确定所述电子设备通过所述印刷电路板传输信号的质量数据。
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