欧姆龙株式会社藤井心平获国家专利权
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龙图腾网获悉欧姆龙株式会社申请的专利三维形状计测装置、三维形状计测方法及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114867985B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080090621.7，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权三维形状计测装置、三维形状计测方法及存储介质是由藤井心平;田中贵茂设计研发完成，并于2020-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本三维形状计测装置、三维形状计测方法及存储介质在说明书摘要公布了：三维形状计测装置具有：投影单元，其针对计测对象从相对于所述计测对象的绕铅垂轴的角度不同的多个方向投影图案光；拍摄单元，其对所述计测对象进行拍摄；以及计测单元，其基于由所述拍摄单元拍摄到的图像，对所述计测对象的三维形状进行计测，所述拍摄单元取得反射形态不同的多个图案投影图像，所述多个图案投影图像是从所述多个方向投影图案光而得到的多个图像，所述反射形态是所述计测对象中具有倾斜的部位处的包含所述图案光的强度在内的反射形态，所述计测单元基于构成所述多个图案投影图像的各像素的规定特征量在各图像间的差异，对所述倾斜的方向进行计测。
本发明授权三维形状计测装置、三维形状计测方法及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种三维形状计测装置，其特征在于，所述三维形状计测装置具有： 投影单元，其针对计测对象从相对于所述计测对象的绕铅垂轴的角度不同的多个方向投影图案光； 拍摄单元，其对所述计测对象进行拍摄；以及 计测单元，其基于由所述拍摄单元拍摄到的图像对所述计测对象的三维形状进行计测， 所述拍摄单元取得反射形态不同的多个图案投影图像，所述多个图案投影图像是从所述多个方向投影图案光而得到的多个图像，所述反射形态是所述计测对象中具有倾斜的镜面部位处的包含所述图案光的强度在内的反射形态， 所述计测单元基于构成所述多个图案投影图像的各像素的亮度在各图像间的差异，设为所述倾斜的斜面朝向与各图案投影图像间的表示所述计测对象的同一部位的像素的亮度最大的所述图案投影图像中所投影的所述图案光进行照射的方向对置的方向，计测所述三维形状。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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