欧姆龙株式会社藤井心平获国家专利权
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龙图腾网获悉欧姆龙株式会社申请的专利三维形状计测装置、三维形状计测方法及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114867984B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080090516.3，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权三维形状计测装置、三维形状计测方法及存储介质是由藤井心平;田中贵茂设计研发完成，并于2020-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本三维形状计测装置、三维形状计测方法及存储介质在说明书摘要公布了：在具有照明单元、拍摄单元和计测单元的三维形状计测装置中，所述拍摄单元取得所述拍摄单元的拍摄方向或所述照明光的照射方向相对于所述计测对象的绕铅垂轴的角度不同且所述计测对象的规定部位处的包含所述照明光的反射光的强度和波长中的任意方在内的反射形态不同的多个图像，所述计测单元基于所述拍摄单元取得的所述多个图像，计测所述规定部位的三维形状。
本发明授权三维形状计测装置、三维形状计测方法及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种三维形状计测装置，其特征在于，所述三维形状计测装置具有： 照明单元，其对计测对象照射照明光； 拍摄单元，其对所述计测对象进行拍摄；以及 计测单元，其基于从由所述拍摄单元拍摄到的图像得到的所述照明光的反射光的波长的差异，对所述计测对象的三维形状进行计测， 所述照明单元从铅垂方向至水平方向之间的多个不同的角度分别对所述计测对象照射波长不同的照明光， 所述拍摄单元取得所述拍摄单元的拍摄方向或所述照明光的照射方向相对于所述计测对象的绕铅垂轴的角度不同的多个图像，并且所述多个图像是所述计测对象中包含倾斜的规定部位处的包含所述反射光的强度和波长中的任意方在内的反射形态不同的多个图像， 所述计测单元使用所述拍摄单元取得的所述多个图像，基于构成所述反射光的所述反射形态分别不同的多个图像的各像素中的规定特征量在各图像间的差异，对所述规定部位的倾斜的方向进行计测，并且根据所述拍摄单元所取得的至少一个图像中的、所述波长不同的照明光各自的反射光的所述反射形态，对所述规定部位的倾斜程度进行计测。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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