华润微集成电路(无锡)有限公司华晶获国家专利权
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龙图腾网获悉华润微集成电路(无锡)有限公司申请的专利实现串行接口芯片测试的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114816868B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110076412.3，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权实现串行接口芯片测试的方法是由华晶;曹旺;华纯设计研发完成，并于2021-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本实现串行接口芯片测试的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种实现串行接口芯片测试的方法，包括通过I2C控制模块的串行通信引脚输入特定的通信协议，芯片进入测试模式；通过指令码及其解析格式，选择进入各项次级测试模式，通过I2C控制模块的串行通信引脚与测试译码电路进行数据串行或并行转换，进行数据的读写；结束指令或指令译码错误指令，芯片退出测试模式。采用了本发明的实现串行接口芯片测试的方法，复用I2C引脚为测试引脚，省去了芯片需要额外封装的专用测试引脚，节约了封装成本。本发明依托I2C硬件通信协议的优势，承担了很大部分软件程序的开销，使得芯片测试程序得以简化，一旦测试中发现问题，也更容易排查，大大提高了测试人员的工作效率，进一步降低成本，提高芯片测试效率。
本发明授权实现串行接口芯片测试的方法在权利要求书中公布了：1.一种实现串行接口芯片测试的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤： 通过I2C控制模块的串行通信引脚输入第一通信协议，芯片进入测试模式； 通过指令码及其解析格式，选择进入各项次级测试模式，通过I2C控制模块的串行通信引脚与测试译码电路进行数据串行或并行转换，进行数据的读写； 接收测试结束指令或指令译码错误指令，芯片退出测试模式； 所述的芯片进入测试模式的步骤具体包括以下处理过程： 芯片处于空闲态，若检测到I2C_RSTN变高，芯片进入等待状态； 拉低并保持串行数据线SDA，芯片进入应答阶段； 等待预设时间后释放串行时钟线SCL，使串行时钟线SCL恢复默认值上拉高电平； 芯片检测到串行时钟线SCL变高，自动释放串行数据线SDA，使串行数据线SDA恢复成默认值上拉高电平，芯片退出应答阶段，进入释放状态； 拉高TEST_EN信号，进入测试模式，进行地址匹配，芯片等待接收模式选择码的输入。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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