武汉理工大学何大平获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉理工大学申请的专利一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114486940B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210139257.X，技术领域涉及：G01N22/02；该发明授权一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法是由何大平;管慧娟;杨应平;宋荣国设计研发完成，并于2022-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及微波传感技术领域，尤其是一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法。其中，金属无损检测传感器包括参考地，所述参考地包括谐振结构；介质基底，所述介质基底设置于所述参考地上；微带线，所述微带线设置于所述介质基底上，且所述微带线沿所述介质基底的轴向方向延伸。本发明在利用金属无损检测系统进行金属表面缺陷检测时，金属表面任意形式的缺陷均会增大整体等效电感，金属无损检测传感器谐振频率减小。对金属表面任意方向、长度、宽度以及深度裂纹均不会造成漏检，且检测灵敏度比较大，可检测亚毫米级别的裂纹。
本发明授权一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种金属无损检测传感器，其特征在于，包括： 参考地，所述参考地包括谐振结构； 介质基底，所述介质基底设置在所述参考地上； 微带线，所述微带线设置于所述介质基底上，且所述微带线沿所述介质基底的轴向方向延伸； 所述参考地为金属参考地，所述金属参考地包括中间区域和其他区域，所述中间区域内设置有所述谐振结构； 其中，所述谐振结构，包括： 金属环，所述金属环上设有开口； 第一金属枝节和第二金属枝节，所述第一金属枝节和所述第二金属枝节分别设置在所述金属环上，且位于所述开口的两端，所述第一金属枝节和所述第二金属枝节进行柱状设计，且在所述开口两端相互平行设置； 部分所述第一金属枝节和所述第二金属枝节位于所述金属环内部； 所述第一金属枝节还包括位于所述金属环外部的其余部分； 所述其余部分沿着远离所述金属环的方向上延伸； 所述金属环包括金属圆环或者金属椭圆环。
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