上海华岭集成电路技术股份有限公司王玉龙获国家专利权
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龙图腾网获悉上海华岭集成电路技术股份有限公司申请的专利一种芯片的追踪方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115858271B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211436559.X，技术领域涉及：G06F11/273；该发明授权一种芯片的追踪方法和装置是由王玉龙;鲍小燕;熊忠应;赵多智设计研发完成，并于2022-11-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片的追踪方法和装置在说明书摘要公布了：本申请提供了一种芯片的追踪方法和装置。本申请在测试流程中，对目标芯片进行分类测试后，利用测试时间点，使每个被测试的目标芯片的芯片信息在第一测试信息集中自然排序，既减少了系统排序的负担，也使芯片信息有规律可查。利用预设料盘排列规则和第一测试信息集中芯片信息的排序顺序对目标芯片进行位置管理。如果被测试的目标芯片本次测试的芯片，则依据第一测试信息集中排序规则下的芯片信息结合预设料盘排列规则，便可映射至托盘中目标芯片所在的具体位置，从而实现目标芯片的追踪。
本发明授权一种芯片的追踪方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片的追踪方法，其特征在于，包括： 在第一测试流程中，对第一目标芯片进行分类测试，获取所述第一目标芯片的第一测试时间点、第一芯片编号和第一芯片类型； 获取所述第一目标芯片的第一芯片类型所对应的第一料盘的第一料盘编号，并将所述第一目标芯片放至第一料盘中第一位置，其中，所述第一位置为所述第一料盘中顺序排列的第一个空闲位置； 将所述第一测试时间点、所述第一芯片编号、所述第一芯片类型和所述第一料盘编号作为所述第一目标芯片的芯片信息保存至第一测试信息集中，其中，所述第一测试信息集用于保存所述第一测试流程中测试后的目标芯片的芯片信息，且对其中保存的各个目标芯片的测试时间点进行排序； 当所述第一测试流程结束后，将所述第一目标芯片的第一芯片编号分别与预设编号信息集中各个芯片编号进行一致性比对； 当所述第一目标芯片的第一芯片编号与预设编号信息集中各个芯片编号均不一致时，将所述第一目标芯片的第一芯片编号应用于所述第一测试信息集，获得所述第一目标芯片在所述第一料盘中的位置。
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