深圳市华汉伟业科技有限公司曾利宏获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市华汉伟业科技有限公司申请的专利一种基于高分辨率图像的缺陷检测方法、存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116596866B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310498557.1,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种基于高分辨率图像的缺陷检测方法、存储介质是由曾利宏;杨洋;黄淦;翟爱亭;林泽伟设计研发完成,并于2023-05-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于高分辨率图像的缺陷检测方法、存储介质在说明书摘要公布了:一种基于高分辨率图像的缺陷检测方法、存储介质,该方法包括:获取被测物体的高分辨率图像;将高分辨率图像输入训练好的缺陷检测模型以得到高分辨率图像的缺陷检测结果,包括:利用复合特征抽取模块对高分辨率图像进行特征提取,得到高分辨率图像的复合特征图;利用多尺度高频特征抽取模块对高分辨率图像进行高频特征提取,得到高分辨率图像的多个具有不同尺度的高频特征图;利用多尺度特征融合模块对复合特征图和高频特征图进行特征融合,得到融合特征图;利用检测模块对融合特征图进行处理获得高分辨图像的缺陷检测结果。由于融合低频特征和多尺度的高频特征,尽可能保留高分辨率图像的细节信息,从而提升了小目标缺陷检测的精度。
本发明授权一种基于高分辨率图像的缺陷检测方法、存储介质在权利要求书中公布了:1.一种基于高分辨率图像的缺陷检测方法,其特征在于,包括: 获取被测物体的高分辨率图像; 将所述高分辨率图像输入训练好的缺陷检测模型以得到所述高分辨率图像的缺陷检测结果,所述缺陷检测结果包括所述高分辨率图像中的缺陷区域和或缺陷类别; 其中所述缺陷检测模型包括复合特征抽取模块、多尺度高频特征抽取模块、多尺度特征融合模块以及检测模块;所述将所述高分辨率图像输入训练好的缺陷检测模型以得到所述高分辨率图像的缺陷检测结果包括: 利用所述复合特征抽取模块对所述高分辨率图像进行特征提取,以得到所述高分辨率图像的复合特征图,所述复合特征图用于表征所述高分辨率图像的低频特征和高频特征;其中,所述复合特征抽取模块包括一个卷积层、一个最大池化层和多个串联的残差模块,每个所述残差模块包括两个卷积子层,所述最大池化层的输入特征图为所述卷积层的输出特征图,每个所述残差模块的输出与上一级残差模块的输出相加作为下一级残差模块的输入,其中第一个所述残差模块的输入特征图为所述最大池化层的输出特征图,第二个所述残差模块的输入特征图为第一个所述残差模块的输出特征图与所述最大池化层的输出特征图相加得到的特征图; 利用所述多尺度高频特征抽取模块对所述高分辨率图像进行高频特征提取,以得到所述高分辨率图像的多个具有不同尺度的高频特征图,所述高频特征图用于表征所述高分辨率图像的高频特征; 利用所述多尺度特征融合模块对所述复合特征图和所述高频特征图进行特征融合,得到融合特征图; 利用所述检测模块对所述融合特征图进行处理以获得所述高分辨率图像的缺陷检测结果。
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