吉姆西半导体科技(无锡)股份有限公司肖兆海获国家专利权
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龙图腾网获悉吉姆西半导体科技(无锡)股份有限公司申请的专利一种研磨垫表面缺陷检测装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223139423U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422189966.6，技术领域涉及：G01N21/88；该实用新型一种研磨垫表面缺陷检测装置是由肖兆海;陈国亮设计研发完成，并于2024-09-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种研磨垫表面缺陷检测装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种研磨垫表面缺陷检测装置，包括：箱体，箱体为顶部敞开结构；承载台，承载台为透光板，承载台设置于箱体的顶部；灯带，灯带包括多个并联连接的灯件；灯带板，灯带板设置在箱体内，灯带板上均匀间隔地设置多个孔洞，灯带与灯带板连接，灯件设置在灯带板的孔洞中。本实用新型用于研磨垫表面缺陷检测时可将研磨垫放置在承载台上灯带产生的灯光透过承载台照射在研磨垫上，便于工作人员目视检测研磨垫的表面缺陷，提高了缺陷识别的准确性以及检测效率。
本实用新型一种研磨垫表面缺陷检测装置在权利要求书中公布了：1.一种研磨垫表面缺陷检测装置，其特征在于，包括： 箱体，所述箱体为顶部敞开结构； 承载台，所述承载台为透光板，所述承载台设置于所述箱体的顶部； 灯带，所述灯带包括多个并联连接的灯件； 灯带板，所述灯带板设置在所述箱体内，所述灯带板上均匀间隔地设置多个孔洞，所述灯带与所述灯带板连接，所述灯件设置在所述灯带板的孔洞中。
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