住化电子材料科技(无锡)有限公司蒋鑫磊获国家专利权
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龙图腾网获悉住化电子材料科技(无锡)有限公司申请的专利用于光学膜的检测系统获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223139442U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422198193.8,技术领域涉及:G01N21/95;该实用新型用于光学膜的检测系统是由蒋鑫磊;王一峰;袁培雅设计研发完成,并于2024-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于光学膜的检测系统在说明书摘要公布了:本实用新型涉及一种用于光学膜的检测系统。该系统包括第一检测装置和第二检测装置;该第一检测装置包括标志检测部件,该标志检测部件检测该光学膜上是否存在标志,以及对于检测到该标志的该光学膜,基于该标志在该光学膜上的位置和大小来确定该光学膜的待检区域;该第二检测装置包括辉点检测部件,该辉点检测部件检测该光学膜的该待检区域,以获得与辉点相关的特征值。该系统实现了光学膜的上料、输送、检测和收存的自动化,提高了检测的精确性,同时提高了检测的效率,大大节省了人力。
本实用新型用于光学膜的检测系统在权利要求书中公布了:1.一种用于光学膜的检测系统,其特征在于,所述系统包括第一检测装置和第二检测装置; 所述第一检测装置包括标志检测部件,所述标志检测部件检测所述光学膜上是否存在标志,以及对于检测到所述标志的所述光学膜,基于所述标志在所述光学膜上的位置和大小来确定所述光学膜的待检区域; 所述第二检测装置包括辉点检测部件,所述辉点检测部件检测所述光学膜的所述待检区域,以获得与辉点相关的特征值。
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