浙江美迪凯光学半导体有限公司张攀威获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江美迪凯光学半导体有限公司申请的专利一种检测晶圆产品外形尺寸的工具获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223138554U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422294219.9，技术领域涉及：G01B5/08；该实用新型一种检测晶圆产品外形尺寸的工具是由张攀威;韩巍巍;李桂花设计研发完成，并于2024-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种检测晶圆产品外形尺寸的工具在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种检测晶圆产品外形尺寸的工具，包括工作面板，工作面板中心纵向设置有滑轨，滑轨上滑动连接有滑板，滑板沿滑轨上下移动，滑板上转动连接有转盘，转盘上用于安置待检测产品，工作面板上位于滑轨滑动方向从下到上分别平行设置有两排滑槽，上排滑槽为下限调节槽，分为两段，分别对称分布于滑轨两侧，下排滑槽为上限调节槽，分为两段，分别对称分布于滑轨两侧，下限调节槽上滑动连接有下限挡块，上限调节槽上滑动连接有上限挡块。本实用新型通过设置上限和下限，上下移动和旋转来检测晶圆产品外形尺寸是否符合规格，大大简化了检测过程，无需过多的复杂操作，可在避免碰伤风险的情况下，保证品质，提升效率，节省人工劳动力。
本实用新型一种检测晶圆产品外形尺寸的工具在权利要求书中公布了：1.一种检测晶圆产品外形尺寸的工具，包括工作面板，其特征是，所述工作面板中心纵向设置有滑轨，滑轨上滑动连接有滑板，滑板沿滑轨上下移动，滑板上转动连接有转盘，转盘上用于安置待检测产品，工作面板上位于滑轨滑动方向从下到上分别平行设置有两排滑槽，上排滑槽为下限调节槽，分为两段，分别对称分布于滑轨两侧，下排滑槽为上限调节槽，分为两段，分别对称分布于滑轨两侧，下限调节槽上滑动连接有下限挡块，上限调节槽上滑动连接有上限挡块。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浙江美迪凯光学半导体有限公司，其通讯地址为：314400 浙江省嘉兴市海宁市长安镇(高新区)新潮路15号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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