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龙图腾网获悉上海国微芯芯半导体有限公司申请的专利集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119375805B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411497011.5，技术领域涉及：G01R35/00；该发明授权集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质是由杨凡;傅驰;邓倩;李童;郭军设计研发完成，并于2024-10-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质，应用于集成电路可测性设计领域，其中先判断路径上存在的违例设置类型如“‑from”、“‑through”、“‑to”之中的一种或多种组合，然后根据不同的时序违例设置，来采取不同的测试点插入策略：对于“‑from”和“‑through”设置，在最后一个非“‑to”的路径后插入测试点，从而利用测试点来阻止X态向后传播；而对于“‑to”设置，则将相关电路节点mask掉掩藏或者说屏蔽，以控制X态不影响后续测试。在插入测试点后，可以显著降低自动化测试向量生成的推导难度、运行时间和向量数量，同时提高测试覆盖率，具有广泛的适用性和操作性。

本发明授权集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质在权利要求书中公布了：1.一种集成电路测试点插入方法，其特征在于，包括： 获取待测试电路的若干条时序违例路径； 根据每条时序违例路径在测试过程对应的捕获路径，确定每条时序违例路径对应捕获路径的路径设置选项；其中，路径设置选项用于表征出捕获路径的路径信息，路径设置选项包括以下任一单独选项或多个选项组合的复合选项：-from，-through，-to，其中-from用于表征捕获路径的路径起点，-through用于表征捕获路径的路径途径点，-to用于表征捕获路径的路径终点； 对每条时序违例路径进行插入测试点处理，其中插入处理过程包括：若时序违例路径所对应捕获路径包含有不止一个路径设置选项，则在最后一个不属于“-to”设置选项的时序违例路径后插入测试点；若时序违例路径所对应捕获路径中只有一个路径设置选项，且该路径设置选项不属于“-to”设置选项，则在时序违例路径后插入测试点，反之则在自动化向量生成时将时序违例路径终点屏蔽。

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