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龙图腾网获悉台湾中华精测科技股份有限公司申请的专利探针卡装置及自对准探针获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114545042B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011327852.3，技术领域涉及：G01R1/073；该发明授权探针卡装置及自对准探针是由谢开杰;苏伟志;陈弘明;李帅设计研发完成，并于2020-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本探针卡装置及自对准探针在说明书摘要公布了：本发明公开一种探针卡装置及自对准探针，所述自对准探针包含用来顶抵于信号转接板的一转接端部、用来可分离地顶抵于待测物的一测试端部、相连于所述转接端部的一第一连接部、相连于所述测试端部的一第二连接部及连接所述第一连接部与所述第二连接部的一弧形部。其中，所述转接端部与所述测试端部共同定义有一基准轴线，所述第一连接部形成有一导正凸起，所述弧形部与所述基准轴线所相隔的一最大距离，其大于75微米并小于150微米。据此，通过所述第一连接部形成有所述导正凸起，使得所述自对准探针与所述第一导板单元之间的间隙能够被有效地控制，据以利于所述探针卡装置的发展与应用。

本发明授权探针卡装置及自对准探针在权利要求书中公布了：1.一种探针卡装置，其特征在于，所述探针卡装置包括： 一第一导板单元与一第二导板单元，其彼此间隔地设置；以及 多个自对准探针，穿设于所述第一导板单元与所述第二导板单元，并且任两个相邻所述自对准探针相隔有一间距；其中，每个所述自对准探针包含有： 一转接端部，位于远离所述第二导板单元的所述第一导板单元的一外侧； 一测试端部，位于远离所述第一导板单元的所述第二导板单元的一外侧，并且所述测试端部用来可分离地顶抵于一待测物；其中，所述转接端部与所述测试端部共同定义有一基准轴线； 一第一连接部，位于所述第一导板单元内；其中，所述第一连接部形成有一导正凸起，以使所述第一连接部能与所述第一导板单元之间形成不大于4微米的一间隙； 一第二连接部，位于所述第二导板单元内；及 一弧形部，连接所述第一连接部与所述第二连接部；其中，所述弧形部与所述基准轴线所相隔的一最大距离，其大于75微米并小于所述间距； 其中，每个所述自对准探针在形成有所述最大距离的所述弧形部的位置定义为一狭窄区，所述狭窄区与所述导正凸起分别位于所述基准轴线的相反两侧。

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