京东方科技集团股份有限公司王海金获国家专利权
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龙图腾网获悉京东方科技集团股份有限公司申请的专利用于缺陷分析的计算机实现的方法、用于缺陷分析的设备、计算机存储介质和缺陷分析系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114930385B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080003638.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权用于缺陷分析的计算机实现的方法、用于缺陷分析的设备、计算机存储介质和缺陷分析系统是由王海金;曾建风设计研发完成，并于2020-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于缺陷分析的计算机实现的方法、用于缺陷分析的设备、计算机存储介质和缺陷分析系统在说明书摘要公布了：提供了一种用于缺陷分析的计算机实现的方法。该计算机实现的方法包括：获得多组缺陷点坐标，所述多组缺陷点坐标中的各组包括多个基板中的各个基板中的缺陷点的坐标，各个基板中的缺陷点的坐标是在图像坐标系中的坐标；将根据所述图像坐标系的所述多组缺陷点坐标组合成复合组坐标，以生成复合图像；以及执行聚类分析以将所述复合图像中的所述复合组中的缺陷点分类成多个点簇。
本发明授权用于缺陷分析的计算机实现的方法、用于缺陷分析的设备、计算机存储介质和缺陷分析系统在权利要求书中公布了：1.一种用于缺陷分析的计算机实现的方法，包括： 获得多组缺陷点坐标，所述多组缺陷点坐标中的各组包括多个基板中的各个基板中的缺陷点的坐标，各个基板中的缺陷点的坐标是在图像坐标系中的坐标； 将根据所述图像坐标系的所述多组缺陷点坐标组合成复合组坐标，以生成复合图像；以及 执行聚类分析以将所述复合图像中的所述复合组中的缺陷点分类成多个点簇； 分别确定所述多个点簇中的至少多个选择的点簇的多个轮廓，所述多个轮廓中的各个轮廓包括所述多个选择的点簇中的各个点簇中的多个边缘缺陷点； 对所述多个选择的点簇的边缘缺陷点应用拟合算法，以生成分别与所述多个选择的点簇对应的多个遮挡区域；以及 分别生成所述多个遮挡区域的多个特征向量。
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