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龙图腾网获悉深圳市华星光电半导体显示技术有限公司申请的专利显示面板、显示面板测试方法及显示装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114639711B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210315270.6，技术领域涉及：H10K59/35；该发明授权显示面板、显示面板测试方法及显示装置是由李东伟设计研发完成，并于2022-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本显示面板、显示面板测试方法及显示装置在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种显示面板及显示面板测试方法。显示装置包括显示面板。显示面板包括衬底、信号线、第一测试模块以及第二测试模块。信号线设置在衬底上。信号线包括多条第一信号线和多条第二信号线。第一信号线连接第一颜色像素。第二信号线连接第二颜色像素。第一测试模块设置在衬底上且与信号线间隔设置。第一测试模块连接第一信号线和第二信号线。由于第一测试模块连接了第一信号线和第二信号线，因此在进行阵列测试时，不用对第一信号线和第二信号线单独进行测试。由此，可以减少阵列检测设备的扎针数量，并能降低测试针与显示面板的对位要求，避免阵列检测不准确。

本发明授权显示面板、显示面板测试方法及显示装置在权利要求书中公布了：1.一种显示面板，所述显示面板包括第一颜色像素和第二颜色像素，其特征在于，所述显示面板包括： 衬底； 信号线，所述信号线设置在所述衬底上，所述信号线包括多条第一信号线和多条第二信号线，所述第一信号线连接所述第一颜色像素，所述第二信号线连接所述第二颜色像素； 第一测试模块，所述第一测试模块设置在所述衬底上，所述第一测试模块包括第一短路棒和第一焊盘，所述第一短路棒的一端连接所述第一信号线和所述第二信号线，所述第一短路棒的另一端连接所述第一焊盘；其中，所述第一测试模块用于所述显示面板的阵列测试； 所述显示面板还包括第三颜色像素，所述信号线还包括多条第三信号线，所述第三信号线连接所述第三颜色像素，所述第一短路棒还连接所述第三信号线； 所述显示面板还包括控制模块，所述控制模块连接所述第一信号线、所述第二信号线以及所述第三信号线，所述控制模块控制所述第一信号线、所述第二信号线和所述第三信号线的通断； 所述显示面板还包括第二测试模块，所述第二测试模块设置在所述衬底上且与所述第一测试模块间隔设置，所述第二测试模块包括第一颜色短路棒、第一颜色测试焊盘、第二颜色短路棒、第二颜色测试焊盘、第三颜色短路棒以及第三颜色测试焊盘，所述第一颜色短路棒的一端电性连接多条所述第一信号线，所述第一颜色短路棒的另一端连接所述第一颜色测试焊盘，所述第二颜色短路棒的一端电性连接多条所述第二信号线，所述第二颜色短路棒的另一端连接所述第二颜色测试焊盘，所述第三颜色短路棒的一端电性连接多条所述第三信号线，所述第三颜色短路棒的另一端连接所述第三颜色测试焊盘，其中，所述第一测试模块设置在所述第二测试模块远离所述第一颜色像素和所述第二颜色像素的一侧； 所述第一焊盘和所述第一短路棒位于呈阵列排布的待切割的所述显示面板外，所述第一颜色测试焊盘、所述第二颜色测试焊盘、所述第三颜色测试焊盘以及对应的所述第一颜色短路棒、所述第二颜色短路棒、所述第三颜色短路棒位于所述显示面板的非显示区； 所述控制模块包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管以及第三薄膜晶体管；所述第一薄膜晶体管的栅极接入第一触发信号，所述第一薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第一信号线，所述第二薄膜晶体管的栅极接入第二触发信号，所述第二薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第二信号线，所述第三薄膜晶体管的栅极接入第三触发信号，所述第三薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第三信号线； 其中，所述第一触发信号、所述第二触发信号和所述第三触发信号分时段输入，用于分别控制所述第一颜色像素、所述第二颜色像素以及所述第三颜色像素的发光，实现在所述第一短路棒未切割断开前不同颜色像素的分别点亮。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，其通讯地址为：518132 广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。