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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种高精确度的铁磁共振线宽测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116482590B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310406153.5，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权一种高精确度的铁磁共振线宽测量方法是由张怀武;岳华伟;金立川;傅橙辉;臧百斐设计研发完成，并于2023-04-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高精确度的铁磁共振线宽测量方法在说明书摘要公布了：本发明属于微波、毫米波段磁性材料参数测量领域，具体提供一种高精确度的铁磁共振线宽测量方法，用以解决现有微波铁氧体材料的铁磁共振线宽测量方法因测量磁场精度较大导致误差增大的问题。本发明以矢量网络分析仪为信号收发源，采用扫场步进依次递减的粗扫、第一次细扫及第二次细扫的测量流程，并且基于第一次细扫的拟合参数对第二次细扫的测试数据进行插值作为精度补偿，使测量数据更收敛，显著提高测量结果的精确度；同时，插值实现精度补偿能够有效解决磁场精度不足的问题，减小测量带来的误差，使测量数据得到更好的拟合效果，进而提高铁磁共振线宽测量的精确度；另外，本发明的测量方式对于常见谐振腔法与共面波导法等都适用。

本发明授权一种高精确度的铁磁共振线宽测量方法在权利要求书中公布了：1.一种高精确度的铁磁共振线宽测量方法，包括以下步骤： 步骤1、设定测试频率与粗扫步进ε1，在测试频率下进行最大范围扫场，得到待测样品的吸收峰； 步骤2、设定第一次细扫步进ε2、ε2ε1，对吸收峰进行扫场，得到待测样品的采样点集Q1＝[x1,y1,x2,y2,...,xM,yM]，xm,ym表示第一次细扫的第m个采样点数据，其中，x为磁场强度，y为S21参数； 步骤3、对采样数据集Q1进行洛伦兹拟合，得到待测样品的共振曲线y，并对共振曲线求导，得到： 其中，x为磁场强度，y为S21参数，A、xc为拟合参数，w为铁磁共振线宽的拟合参数； 步骤4、设定第二次细扫步进ε3、ε3ε2，对吸收峰再次进行扫场，得到待测样品的采样点集Q2＝[x1′,y1′,x2′,y2′,...,xN′,yN′]，xn′,yn′表示第二次细扫的第n个采样点数据； 步骤5、设置插值精度ε，对采样点集Q2进行插值，得到插值点集Q3＝[x1″,y1″,x2″,y2″,...,xN″,yN″]；xn″,yn″表示第n个插值点数据，具体为： 步骤6、将采样点集Q2与插值点集Q3按照磁场强度由小到大的顺序合并构成测试点集，对测试点集再次进行洛伦兹拟合，将铁磁共振线宽的拟合参数作为铁磁共振线宽测量结果。

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