长迈半导体(成都)有限公司高光辉获国家专利权
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龙图腾网获悉长迈半导体(成都)有限公司申请的专利老化测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223123176U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422171061.6，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型老化测试设备是由高光辉;姚金广;李康海设计研发完成，并于2024-09-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本老化测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型涉及一种老化测试设备，包括箱体、腔门装置、预推装置及自动拔插装置。根据相应指令能够自动执行测前准备步骤、控温测试步骤及测后分离步骤。在完成前一轮老化测试后，腔门驱动机构驱动门板打开进出口，预推驱动组件驱动预推组件切换至避让状态。此时，通过进出口便可取出承载架及BIB单元板，从而对完成测试的芯片实现下料。接着，将装载待测芯片的BIB单元板置于承载架，并将承载架通过进出口放入测试腔，便可衔接测前准备步骤，以进行下一轮老化测试。可见，上述老化测试设备自动化程度较高，且能够实现多轮测试依次进行，从而能够显著提升老化测试的效率。
本实用新型老化测试设备在权利要求书中公布了：1.一种老化测试设备，其特征在于，包括： 箱体，形成有相互隔离的测试腔及设备腔，所述测试腔具有进出口，并能够容纳承载BIB单元板的承载架，所述承载架能够经所述进出口进出所述测试腔，所述箱体内设置有两端分别延伸至所述设备腔及所述测试腔的信号板； 腔门装置，包括门板及腔门驱动机构，所述腔门驱动机构能够驱动所述门板覆盖测试腔的进出口，并能够驱动所述门板打开测试腔的进出口； 预推装置，包括预推组件及预推驱动组件，所述预推驱动组件能够驱动所述预推组件切换至将所述承载架上的BIB单元板抵推至预设位置的预推状态，并能够驱动所述预推组件切换至避让状态，以允许所述承载架进出所述测试腔；及 自动拔插装置，能够拉动位于所述预设位置的BIB单元板朝向所述信号板移动，直至使BIB单元板与所述信号板插接，并能够推动BIB单元板远离所述信号板，直至使BIB单元板与所述信号板分离。
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