闳康科技股份有限公司吴健为获国家专利权
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龙图腾网获悉闳康科技股份有限公司申请的专利物性分析方法、物性分析试片及其制备方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114755074B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110102296.8，技术领域涉及：G01N1/28；该发明授权物性分析方法、物性分析试片及其制备方法是由吴健为;褚耕颉;方永胜;吴纯伟;陈弘仁设计研发完成，并于2021-01-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本物性分析方法、物性分析试片及其制备方法在说明书摘要公布了：本申请公开一种物性分析方法、物性分析试片及其制备方法。物性分析试片的制备方法包括：提供一待分析试片；以及依据待分析试片的材料，形成一对比强化层于待分析试片的表面。对比强化层包括相互堆叠的多个第一材料层以及多个第二材料层，第一材料层与第二材料层的材料不同，且多个第一材料层与多个第二材料层中的每一层的厚度不超过0.1nm。以一电子显微镜所撷取的待分析试片的表层影像的平均灰阶值与对比强化层影像的平均灰阶值之间的差值至少50。本申请提供的物性分析方法、物性分析试片及其制备方法不仅可对待分析试片提供保护，又能提升待分析试片影像在边缘的对比度以及边缘锐度，以节省时间成本。
本发明授权物性分析方法、物性分析试片及其制备方法在权利要求书中公布了：1.一种物性分析试片的制备方法，其特征在于，所述物性分析试片的制备方法包括： 提供一待分析试片；以及 依据所述待分析试片的材料，形成一对比强化层于所述待分析试片的表面，其中，所述对比强化层包括相互堆叠的多个第一材料层以及多个第二材料层，所述第一材料层与所述第二材料层的材料不同，且多个所述第一材料层与多个所述第二材料层中的每一层的厚度不超过0.1nm； 其中，以一电子显微镜所撷取的所述待分析试片影像的平均灰阶值与所述对比强化层的表层影像的平均灰阶值之间的差值至少50。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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