湖北芯擎科技有限公司于永庆获国家专利权
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龙图腾网获悉湖北芯擎科技有限公司申请的专利一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115184764B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110362002.5,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质是由于永庆;谢少辉;吴明飞;靳慧杰;金正雄;杨欣欣设计研发完成,并于2021-04-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质,芯片包括只读存储器和可编程存储器,只读存储器包括芯片运行数据和至少两个平台运行数据,可编程存储器包括多个存储单元,该方法先获取多个存储单元的存储信息,根据存储信息,从多个存储单元中确定目标存储单元,并从目标存储单元中获取目标补丁数据,再根据目标补丁数据,确定芯片的目标测试主体,目标测试主体包括至少两个测试平台中的目标测试平台或芯片,然后根据目标测试主体,从芯片运行数据和至少两个平台运行数据中确定目标运行数据,最后调用目标运行数据对芯片进行测试。本申请实现了同一版本的运行数据适应于各类测试平台的测试需求。
本发明授权一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种芯片测试方法,其特征在于,芯片包括只读存储器和可编程存储器,所述只读存储器包括芯片运行数据和至少两个平台运行数据,各平台运行数据适用于不同测试平台,所述可编程存储器包括多个存储单元,所述存储单元用于存储补丁数据,所述芯片测试方法包括: 获取所述多个存储单元的存储信息,根据所述存储信息,从所述多个存储单元中确定目标存储单元,并从所述目标存储单元中获取目标补丁数据; 根据所述目标补丁数据,确定所述芯片的目标测试主体,所述目标测试主体包括至少两个所述测试平台中的目标测试平台或所述芯片; 根据所述目标测试主体,从所述芯片运行数据和所述至少两个平台运行数据中确定目标运行数据,所述目标运行数据包括所述至少两个平台运行数据中的目标平台运行数据或所述芯片运行数据; 调用所述目标运行数据对芯片进行测试。
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