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龙图腾网获悉深圳市创维软件有限公司申请的专利残次品芯片筛选方法、系统、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115955591B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211714427.9，技术领域涉及：H04N21/442；该发明授权残次品芯片筛选方法、系统、装置及存储介质是由朱铭跃设计研发完成，并于2022-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本残次品芯片筛选方法、系统、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种残次品芯片筛选方法、系统、装置以及存储介质，该残次品芯片筛选方法包括：在所述机顶盒处于高负荷工作状态时，获取所述机顶盒中芯片的第一程序负载率；根据所述第一程序负载率和预设的负载稳定阈值获取所述机顶盒中芯片的第二程序负载率；根据所述第一程序负载率和所述第二程序负载率得到负载率差值；在预设的时间段内，将所述第二程序负载率作为新的第一程序负载率并循环多次执行获取第二程序负载率的步骤以及后续步骤，以得到多个所述负载率差值；根据多个所述负载率差值筛选出残次品芯片。本发明通过芯片在高温高负荷条件下的负载率连续稳定的次数来筛选残次品芯片，实现了快速筛选残次品芯片的效果。

本发明授权残次品芯片筛选方法、系统、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种残次品芯片筛选方法，其特征在于，所述残次品芯片筛选方法应用于针对机顶盒进行残次品芯片筛选，所述残次品芯片筛选方法包括： 在所述机顶盒处于高负荷工作状态时，获取所述机顶盒中芯片的第一程序负载率； 根据所述第一程序负载率和预设的负载稳定阈值获取所述机顶盒中芯片的第二程序负载率,所述第二程序负载率是通过调整所述第一程序负载率，使所述第一程序负载率接近所述负载稳定阈值而得到的； 根据所述第一程序负载率和所述第二程序负载率得到负载率差值； 在预设的时间段内，将所述第二程序负载率作为新的第一程序负载率以循环多次执行所述根据所述第一程序负载率和预设的负载稳定阈值获取所述机顶盒中芯片的第二程序负载率的步骤以及后续步骤，以得到多个所述负载率差值； 根据多个所述负载率差值筛选出残次品芯片； 所述根据多个所述负载率差值筛选出残次品芯片的步骤，包括: 根据多个所述负载率差值计算所述芯片的连续稳定次数,所述连续稳定次数是基于将每个负载率差值与预设的负载率偏差阈值进行比较，若所述负载率差值未超过所述负载率偏差阈值，则判定所述芯片处于负载稳定状态，若所述芯片在相邻的上一个调整周期也处于负载稳定状态，则对所述芯片的连续稳定次数加一计算得到的； 根据所述连续稳定次数筛选出残次品芯片。

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