中国科学院高能物理研究所杨晓宇获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院高能物理研究所申请的专利光电倍增管表面反射率检测方法及检测系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116067916B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310118163.9,技术领域涉及:G01N21/55;该发明授权光电倍增管表面反射率检测方法及检测系统是由杨晓宇;衡月昆;曹国富;温良剑设计研发完成,并于2023-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本光电倍增管表面反射率检测方法及检测系统在说明书摘要公布了:本发明涉及一种光电倍增管表面反射率检测方法及检测系统,属于微弱光检测技术领域,解决了现有检测方法操作不易实现,测试效率低,并且测得的数据不准确的问题。该检测方法包括如下步骤:步骤1:对标准铝镜进行光谱测试得到标准铝镜的光谱数据;步骤2:对待测光电倍增管表面进行光谱测试得到待测光电倍增管表面的光谱数据;步骤3:将标准铝镜的光谱数据和待测光电倍增管表面的光谱数据代入反射率计算公式得到光电倍增管表面的反射率。本发明实现了对光电倍增管表面反射率的快速、无损检测。
本发明授权光电倍增管表面反射率检测方法及检测系统在权利要求书中公布了:1.一种光电倍增管表面反射率检测方法,其特征在于,包括如下步骤: 步骤1:对标准铝镜进行光谱测试得到标准铝镜的光谱数据; 步骤2:对待测光电倍增管表面进行光谱测试得到待测光电倍增管表面的光谱数据; 步骤3:将标准铝镜的光谱数据和待测光电倍增管表面的光谱数据代入反射率计算公式得到光电倍增管表面的反射率; 所述步骤1包括如下步骤: 步骤11:将积分球固定于标准铝镜测试装置的固定支撑部上,以保证标准铝镜光谱测试过程中积分球保持固定; 步骤12:采用光纤分别将积分球上的光源接口与光源连接,积分球上的光谱仪接口与光谱仪连接以及光谱仪与数据采集和处理系统连接; 步骤13:将标准铝镜测试面覆盖于积分球的中心孔上; 步骤14:启动光源,通过数据采集和处理系统观察光谱,保存光谱数据文件得到标准铝镜的光谱数据; 所述步骤2包括如下步骤: 步骤21:将待测光电倍增管置于立柱上的固定环内,并将测试工装安装于待测光电倍增管表面,等待测试; 步骤22:将积分球从标准铝镜测试装置转移到检测装置; 步骤23:通过数据采集和处理系统观察光谱,保存光谱数据文件得到待测光电倍增管表面检测位置处的光谱数据; 所述步骤22:包括如下步骤: 步骤221:保持标准铝镜光谱测试中光源和光谱仪的状态,取下标准铝镜; 步骤222:旋松连接件,将积分球从夹持件上取下; 步骤223:将积分球插入到测试工装的定位环或者检测孔中; 所述反射率计算公式为: 其中,RPMTλ为光电倍增管表面反射率;PPMTλ为光电倍增管表面待测位置光谱;PLλ为光源强度光谱,PALλ为标准铝镜光谱;rλ为标准铝镜在不同波长下的反射率;PBGλ为检测时的环境背景光谱。
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