昆山丘钛光电科技有限公司韩志远获国家专利权
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龙图腾网获悉昆山丘钛光电科技有限公司申请的专利一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116542917B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310450318.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质是由韩志远;袁子超设计研发完成，并于2023-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质，包括：获取待测感光芯片在预设条件下拍摄得到的N张图片，N张图片的曝光时间不相同；确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，以及N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系；若N张图片中至少M张图片对应的第一关联关系与第二关联关系之间的偏差度大于第一预设阈值，确定待测感光芯片不合格。本发明通过确定每张图片中亮度值与曝光时间之间的第一关联关系，以及N张图片之间亮度值与曝光时间之间的第二关联关系，基于第一关联关系和第二关联关系之间的偏差度，确定待测感光芯片的亮度值与曝光时间是否满足需求，即确定待测感光芯片是否合格。
本发明授权一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种感光芯片检测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待测感光芯片在预设条件下拍摄得到的N张图片，所述N张图片的曝光时间不相同；N为大于等于2的正整数； 确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，以及所述N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系； 若所述N张图片中至少M张图片对应的所述第一关联关系与所述第二关联关系之间的偏差度大于第一预设阈值，确定所述待测感光芯片不合格；M为小于等于N且大于等于1的正整数。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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