中国科学院光电技术研究所陆恺立获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院光电技术研究所申请的专利一种适应杂散光干扰的星点提取方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116681757B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310656893.4,技术领域涉及:G06T7/70;该发明授权一种适应杂散光干扰的星点提取方法是由陆恺立;王晓林;赵汝进;李华康;周向东;刘恩海设计研发完成,并于2023-06-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种适应杂散光干扰的星点提取方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种适应杂散光干扰的星点提取方法。首先第一步是杂光抑制,处理包含杂散光的背景图像获得背景干净的星图。第二步是星图二值化,分别从水平和垂直两个方向判断中心像素与边缘像素的差值是否满足阈值要求,并进行二值化处理。第三步是噪声抑制,对星图中残留的单像元噪声进行抑制,第四步是星点标记,计算各个连通域下星点的粗质心坐标。第五步是星点质心计算,采用带阈值的质心法计算1515区域内星点的精确质心坐标。本发明所公开的星点提取方法可以应对月光、太阳光、地气光等杂散光的干扰,能够确保星光导航设备在轨期间稳定运行。
本发明授权一种适应杂散光干扰的星点提取方法在权利要求书中公布了:1.一种适应杂散光干扰的星点提取方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤: 步骤1:输入带杂散光干扰的星图Image; 步骤2:开展杂光抑制;首先进行高亮像素的统一化,将星图中灰度值大于阈值Moon_Seg的像素点均设置为固定值Moon_Seg,得到图像Image1; , 采用大模板下的先腐蚀、后膨胀的操作先消除星点小目标,得到图像Image2, , 其中,SE1为腐蚀模板;SE2为膨胀模板;为腐蚀操作;为膨胀操作, 通过背景减除的方式,获得杂光抑制后的图像Image3, ; 步骤3:星图二值化;从水平和垂直两个维度方向出发,分别判断中心像素之和与边缘像素之和是否同时满足阈值关系: , , 其中,,,为水平方向中心3像素;,,为垂直方向中心3像素;~为水平方向两侧边缘的像素;~为垂直方向两侧边缘的像素;为阈值; 对于满足阈值关系的像素进行二值化处理,等到整张星图遍历完成后,即可得到二值化星图Image4; 步骤4:噪声抑制;采用小模板下的腐蚀和膨胀操作,进一步抑制单像元噪声, , 其中,SE3同时为腐蚀模板和膨胀模板;为腐蚀操作;为膨胀操作; 步骤5:星点标记,星点标记采用基于前序像素的四连通域法进行连通域标记,前序像素表示当前像素行的前一列像素以及上一行的像素,利用当前像素和前序像素之间的关系进行连通域的划分,如果同时满足条件: , 则标记为新的连通域Ai,j且标记号为m; 其中,表示当前像素;表示当前行左边一列的像素;表示上一行左边列的像素;表示上一行当前列的像素;表示上一行右边列的像素; 而对于且前序像素中有一个像素不为0,则选取前序像素中连通域Ci,j标记号m的最大值作为当前像素对应的连通域标记号,并且在遍历整张图像的过程中,需要计算相同连通域的星点灰度累加和GC以及X方向的灰度与坐标加权值XC、Y方向的灰度与坐标加权值YC: , , , 其中,表示坐标位置为i,j的像素点所属于的连通域;表示连通域的灰度累加和,表示坐标位置为i,j的像素点对应的灰度值;表示连通域的灰度与水平坐标i的乘积的累加和;表示连通域的灰度与垂直坐标j的乘积的累加和, 当整张图像遍历完成后,计算粗质心位置: 其中,表示第n个连通域对应的灰度与水平坐标的乘积的累加和;表示第n个连通域对应的灰度与垂直坐标的乘积的累加和;表示第n个连通域对应的灰度累加和;和表示第n个连通域计算到的粗质心坐标; 步骤6:质心计算,利用步骤6计算到的粗质心坐标,在原始图像Image1中计算精确坐标,以粗质心取整后的坐标为原点,计算1515区域内的星点质心坐标; 计算方法采用带阈值的质心法,先计算边缘区域共56个像素的平均灰度值作为背景值B,然后利用1414中心区域内各个像素值减去背景值B,再与星点的坐标值相乘,即可求得精确坐标, , , 。
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