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龙图腾网获悉中国科学院光电技术研究所申请的专利一种基于高帧频高空间分辨率哈特曼的气动像差测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116105965B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310152006.X，技术领域涉及：G01M9/06；该发明授权一种基于高帧频高空间分辨率哈特曼的气动像差测量方法是由李澳;赵旺;杨平;王帅;孔令曦设计研发完成，并于2023-02-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于高帧频高空间分辨率哈特曼的气动像差测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于高帧频高空间分辨率哈特曼的气动像差测量方法，通过脉冲激光器和高采集频率光电探测器实现气动像差短曝光高帧频采集，利用高空间分辨率微透镜阵列实现几十微米级像差探测。测量光源出射光束通过风洞内的气动流场后入射波前传感器，经缩束模块口径变换和像差传递后，气动像差被微透镜阵列空间分割形成相对理想位置存在空间偏移的点阵，经倍率匹配系统将微透镜阵列点阵成像至光电探测器。本发明更易于实现气动流场介质折射率、气动像差等的定量测量，可用于测量风洞流场中的气体密度分布，可为流场气动像差校正系统提供设计输入参数，也可以用于气动像差校正系统的畸变波前探测。

本发明授权一种基于高帧频高空间分辨率哈特曼的气动像差测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于高帧频高空间分辨率哈特曼的气动像差测量方法，其特征在于：该方法利用的测量装置包括脉冲激光器1、激光准直模块2、离轴抛物面主镜3、焦距调节装置4、准直镜5、杂散光抑制模块6、衰减片滤光片模块7、微透镜阵列8、倍率匹配系统9、光电探测器10和同步触发装置11，脉冲激光器1和激光准直模块2组成测量光源，离轴抛物面主镜3、焦距调节装置4、准直镜5、杂散光抑制模块6、衰减片滤光片模块7、微透镜阵列8、倍率匹配系统9、光电探测器10和同步触发装置11组成波前传感器，测量光源和波前传感器分别安置在风洞测量窗口两侧，离轴抛物面主镜3、焦距调节装置4和准直镜5构成了离轴式缩束系统，测量光源出射光束通过风洞内的气动流场后入射波前传感器，经缩束模块口径变换和像差传递后，气动像差被微透镜阵列空间分割形成相对理想位置存在空间偏移的点阵，经倍率匹配系统将微透镜阵列点阵成像至光电探测器10，具体实现步骤如下： 步骤1：打开脉冲激光器1，出射光束经过激光准直模块2得到测量光源出射光束，测量光源出射光束通过风洞装置内的气动流场后入射到波前传感器的主缩束模块，调整离轴抛物面主镜3与准直镜5，使两者光轴重合的同时两者顶点之间的间距小于两者焦距之和，调整好后固定离轴抛物面主镜3与准直镜5的位置；然后将焦距调节装置4放置于离轴抛物面主镜3与准直镜5之间的光路中，并调整使焦距调节装置的光轴与离轴抛物面主镜3与准直镜5的光轴重合，出射光束通过离轴式缩束系统完成对入射光束口径的缩小出射到杂散光抑制模块6，再经过衰减片滤光片模块7后出射到微透镜阵列8，气动像差被微透镜阵列8空间分割形成相对理想位置存在空间偏移的点阵，倍率匹配系统9将微透镜阵列8所成的畸变波前子光斑点阵图像成像至光电探测器10，光电探测器10后连接同步触发装置11，以实现光源和光电探测器10气动像差同步采集； 步骤2：提取光电探测器10上子光斑图像，通过光斑定位技术计算子光斑相对标定位置的偏移量，利用子光斑偏移计算波前斜率； 步骤3：通过波前复原算法复原入射光束波前，高帧频高空间分辨率哈特曼波前传感器采用模式法复原波前根据子孔径分割排布和设定Zernike像差模式，构建子孔径内光斑质心偏移或斜率数据计算像差模式系数的复原矩阵。

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