阿莱夫公司;梅雷格有限责任公司J·高丹获国家专利权
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龙图腾网获悉阿莱夫公司;梅雷格有限责任公司申请的专利用于直接表征具有孔隙度的膜的方法和装置以及此类膜的制造方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118541602B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202480000499.8，技术领域涉及：G01N29/04；该发明授权用于直接表征具有孔隙度的膜的方法和装置以及此类膜的制造方法是由J·高丹;J·J·弗洛朗;J·伦格维茨设计研发完成，并于2024-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于直接表征具有孔隙度的膜的方法和装置以及此类膜的制造方法在说明书摘要公布了：一种表征膜的方法，该方法包括以下步骤：表征该膜以便获得通过超声波测量获得的该膜的克重以及通过X射线测量获得的该膜的克重；确定该膜的至少一个特性，该确定基于通过超声波测量获得的该膜的该克重、通过X射线测量获得的该膜的该克重、以及建立该至少一个特性与通过超声波测量获得的该膜的该克重和通过X射线测量获得的该膜的该克重之间的对应关系的至少一个对应的校准曲线或它们的组合。
本发明授权用于直接表征具有孔隙度的膜的方法和装置以及此类膜的制造方法在权利要求书中公布了：1.一种表征膜F的方法400，所述方法包括以下步骤： -表征所述膜F以便获得通过超声波测量获得的所述膜的克重以及通过X射线测量获得的所述膜的克重； -确定在密度ρ、孔隙度φ和厚度t当中进行选择的所述膜的至少一个特性ρ,φ,t，所述确定基于通过超声波测量获得的所述膜的所述克重、通过X射线测量获得的所述膜的所述克重、以及建立所述至少一个特性ρ,φ,t与通过超声波测量获得的所述膜的所述克重和通过X射线测量获得的所述膜的所述克重之间的对应关系的至少一个对应的校准曲线CCρ,CCφ或它们的组合， 其中所述至少一个对应的校准曲线CCρ,CCφ建立所述至少一个特性ρ,φ,t与通过超声波测量获得的所述膜的所述克重和通过X射线测量获得的所述膜的所述克重的比率之间的对应关系。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人阿莱夫公司;梅雷格有限责任公司，其通讯地址为：法国拉莫特塞沃莱克斯；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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