阿莱夫公司;梅雷格有限责任公司J·高丹获国家专利权
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龙图腾网获悉阿莱夫公司;梅雷格有限责任公司申请的专利结合X射线传感器和超声传感器的用于片材或箔的基重测量的方法和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118489057B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202480000498.3，技术领域涉及：G01N23/083；该发明授权结合X射线传感器和超声传感器的用于片材或箔的基重测量的方法和设备是由J·高丹;J·J·弗洛朗;J·伦格维茨设计研发完成，并于2024-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本结合X射线传感器和超声传感器的用于片材或箔的基重测量的方法和设备在说明书摘要公布了：一种对产品进行X射线表征的方法，该方法包括以下步骤：对产品进行X射线吸收测量和超声波测量，以便在产品的宽度上获得X射线测量数据和超声波测量数据；基于X射线测量数据和超声波测量数据之间的比率计算校准系数C，以及通过将X射线测量数据与校准系数相乘来计算X射线测量数据的校正值。
本发明授权结合X射线传感器和超声传感器的用于片材或箔的基重测量的方法和设备在权利要求书中公布了：1.一种通过X射线表征测量产品P的基重分布BW的方法，所述方法包括以下步骤： -基于X射线穿过所述产品P的透射来执行X射线吸收强度测量，以及基于所述产品对指向所述产品P的超声波的反应来对所述产品进行超声波强度测量，以便获得i表示经由所述X射线吸收测量所感知的所述产品在所述产品的宽度上的基重分布WPat的X射线测量数据X.Meas，，以及ii表示经由所述超声波测量所感知的所述产品在所述产品的所述宽度上的所述基重分布WPat的超声波测量数据SUSt，； -通过将所述超声波测量数据作为参考来计算所述X射线测量数据的校准系数C，所述校准系数C基于所述X射线测量数据与所述超声波测量数据之间的比率；以及 -通过将所述X射线测量数据乘以所述校准系数来计算所述X射线测量数据的校正值。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人阿莱夫公司;梅雷格有限责任公司，其通讯地址为：法国拉莫特塞沃莱克斯；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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