杭州芯云半导体技术有限公司丁盛峰获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州芯云半导体技术有限公司申请的专利按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118226228B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410368858.7,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质是由丁盛峰;李志浩;田佳杰设计研发完成,并于2024-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本发明公开了一种按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及电路测试技术,该方法包括:获取按键电路中目标待测按键对应的目标波形图,目标波形图包括至少两个输出电平;对至少两个输出电平进行顺序标记,获得电平顺序码,一个电平顺序码对应一个输出电平;对电平顺序码中所有奇数位的输出电平和所有偶数位的输出电平进行分别统计,获得目标待测按键的测试机制,基于测试机制对目标待测按键进行测试。本发明通过对电平顺序码中所有奇数位的输出电平和所有偶数位的输出电平进行分别分析,以确定目标待测按键的测试机制的方式,取到了简化测试流程,提高按键电路测试效率的有益效果。
本发明授权按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种按键电路的测试方法,其特征在于,包括: 获取按键电路中目标待测按键对应的目标波形图,所述目标波形图包括至少两个输出电平; 对至少两个所述输出电平进行顺序标记,获得电平顺序码,一个所述电平顺序码对应一个所述输出电平; 对所述电平顺序码中所有奇数位的输出电平和所有偶数位的输出电平进行分别统计,获得所述目标待测按键的测试机制,基于所述测试机制对所述目标待测按键进行测试; 其中,所述对至少两个所述输出电平进行顺序标记,获得电平顺序码,包括: 确定所述电平顺序码的起始码值,所述起始码值为偶数或奇数; 根据所述起始码值为偶数或所述起始码值为奇数对至少两个所述输出电平进行顺序标记,获得所述电平顺序码; 其中,在所述起始码值为偶数时,所述电平顺序码中所有偶数位对应的输出电平为预设输出电平,所述电平顺序码中所有奇数位对应的输出电平包括高电平或低电平; 所述对所述电平顺序码中所有奇数位的输出电平和所有偶数位的输出电平进行分别统计,获得所述目标待测按键的测试机制,包括: 根据输出电平的输出时间基于进制转化算法对所有奇数位对应的高电平或低电平进行进制转化,获得所述电平顺序码中所有奇数位的测试编码; 根据所有奇数位的测试编码以及所有偶数位的预设输出电平获得所述目标待测按键的测试机制; 其中,所述基于所述测试机制对所述目标待测按键进行测试,包括: 获取所述目标待测按键的电平顺序码中所有奇数位的实际编码,以及获取所述电平顺序码中所有偶数位的实际输出电平; 在所有奇数位的所述测试编码和所述实际编码比对一致,且所有偶数位的所述预设输出电平和所述实际输出电平比对一致时,确定所述目标待测按键的测试结果为测试合格; 在所有奇数位的所述测试编码和所述实际编码比对不一致,或所有偶数位的所述预设输出电平和所述实际输出电平比对不一致时,确定所述目标待测按键的测试结果为测试不合格。
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