上海麦骏电子有限公司李亚玮获国家专利权
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龙图腾网获悉上海麦骏电子有限公司申请的专利一种优化差分走线阻抗的FCT测试点获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223093938U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421488244.4，技术领域涉及：H05K1/02；该实用新型一种优化差分走线阻抗的FCT测试点是由李亚玮;崔雅丽设计研发完成，并于2024-06-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种优化差分走线阻抗的FCT测试点在说明书摘要公布了：本实用新型涉及PCB电路设计技术领域，公开了一种优化差分走线阻抗的FCT测试点，设置在电路板上的一对差分信号走线上，包括阻焊开窗，所述阻焊开窗位于所述差分信号走线的耦合处。本实用新型在差分信号走线的耦合处开设阻焊开窗，使得差分信号走线的铜线部分得以暴露，从而利用差分信号走线暴露的铜线和阻焊开窗作为测试点，进行FCT测试。不仅简化了测试流程，降低了测试成本，而且显著减少了对差分信号走线阻抗的影响，确保了测试结果的准确性和可靠性。
本实用新型一种优化差分走线阻抗的FCT测试点在权利要求书中公布了：1.一种优化差分走线阻抗的FCT测试点，其特征在于，应用在电路板上的一对差分信号走线上，包括阻焊开窗，所述阻焊开窗位于所述差分信号走线的耦合处，所述阻焊开窗的长度范围为0.5-1.0mm。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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