华毅瀛飞(浙江)科技有限公司薛维亮获国家专利权
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龙图腾网获悉华毅瀛飞(浙江)科技有限公司申请的专利夹具和芯片老化实验设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223092012U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422014008.5，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型夹具和芯片老化实验设备是由薛维亮设计研发完成，并于2024-08-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本夹具和芯片老化实验设备在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种夹具和芯片老化实验设备，涉及芯片测试技术领域，其中，夹具包括基座和盖板，基座形成有多个固定槽，固定槽用以放置芯片，基座设有电源接头，盖板盖设于基座，盖板面向基座设有多个探针，每一探针对应一固定槽设置，探针的部分结构位于固定槽的开口方向上，多个探针均连接电源接头；本实用新型提供的技术方案中，在进行芯片老化实验时，将多个芯片分别固定在多个固定槽内，压下盖板使得探针与芯片的P电极接触，插上电源接头即可通电实现老化实验，本设备可同时满足多个芯片的老化实验需求，具有更高的实验效率。
本实用新型夹具和芯片老化实验设备在权利要求书中公布了：1.一种夹具，应用于芯片老化实验，其特征在于，包括： 基座，所述基座形成有多个固定槽，所述固定槽用以放置芯片，所述基座设有电源接头；和 盖板，所述盖板盖设于所述基座，所述盖板面向所述基座设有多个探针，每一所述探针对应一所述固定槽设置，所述探针的部分结构位于所述固定槽的开口方向上，多个所述探针均连接所述电源接头。
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