宜宾学院周川获国家专利权
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龙图腾网获悉宜宾学院申请的专利一种溶液晶体生长质量预测及运动控制方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119249937B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411165552.8,技术领域涉及:G06F30/28;该发明授权一种溶液晶体生长质量预测及运动控制方法是由周川;李明伟;尹华伟;刘杭;杜阳晔设计研发完成,并于2024-08-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种溶液晶体生长质量预测及运动控制方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种溶液晶体生长质量预测及运动控制方法,主要解决现有晶体生长质量难以预测,运动方式设计无依据的问题。包括以下步骤:S1,创建晶体生长系统三维物理模型,并对三维物理模型进行网格离散化,相邻离散点距离设为L;S2,获得晶面溶质浓度场;S3,获得晶面一系列台阶列;S4,根据晶面台阶列的相邻台阶间距和弯曲程度对晶面台阶列形貌稳定性进行分析;判断晶面形貌是否稳定;S5,若得出晶面形貌稳定结论,则表示给定的运动模式符合要求,能保证高质量晶体的生长;若得出晶面形貌失稳结论,则重新给定运动方式,按步骤S1‑S4重新进行评估。本发明可以对给定生长环境和运动方式下,直接对晶面形貌稳定性进行分析,预测是否会发生形貌失稳现象。
本发明授权一种溶液晶体生长质量预测及运动控制方法在权利要求书中公布了:1.一种溶液晶体生长质量预测及运动控制方法,其特征在于,包括以下步骤: S1,创建晶体生长系统三维物理模型,并对三维物理模型进行网格离散化,相邻离散点距离设为L; S2,基于CFD方法仿真模拟,对三维物理模型进行求解,获得晶面溶质浓度场; S3,提取晶面溶质浓度场数据,根据台阶推移动力学模型,对台阶列在晶面的推移过程进行模拟,获得晶面一系列台阶列; S4,根据晶面台阶列的相邻台阶间距和弯曲程度对晶面台阶列形貌稳定性进行分析;判断晶面形貌是否稳定; S5,若得出晶面形貌稳定结论,则表示给定的运动模式符合要求,能保证高质量晶体的生长;若得出晶面形貌失稳结论,则重新给定运动方式,按步骤S1-S4重新进行评估。
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