中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))何玉娟获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119830816B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510308756.0,技术领域涉及:G06F30/30;该发明授权基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法是由何玉娟;章晓文;戴宗倍;高汭;陈义强设计研发完成,并于2025-03-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法在说明书摘要公布了:本申请涉及汽车芯片技术领域,公开了一种基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法,该方法包括开展单失效机理评估试验得到加速因子及失效率、构建加速因子矩阵和失效率矩阵计算占比系数矩阵、构建多机理竞争失效矩阵计算综合失效率及平均寿命时间以评估其可靠性。本申请,实现了全面考虑多种失效机理的竞争关系,通过科学合理的试验和计算方法,能够准确评估汽车芯片在复杂应力环境下的综合失效率和平均寿命时间,有效克服了传统单独评估各失效机理的局限性,为汽车芯片可靠性评估提供了更精准、更符合实际工况的评估手段,满足汽车行业对芯片可靠性评估的严苛要求,提升了汽车芯片在设计、生产及应用环节的可靠性保障水平。
本发明授权基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法在权利要求书中公布了:1.一种基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:基于预设的IEC标准及对应的相同失效判据,在不同应力条件下开展首批次的单失效机理评估试验,得到单个加速因子及对应的单个失效率,加速因子用于表征应力对失效进程的影响; S2:基于加速因子和失效率构建对应的加速因子矩阵和失效率矩阵,计算得到占比系数矩阵,占比系数矩阵用于表征多失效机理在综合失效率中的比重关系,占比系数矩阵还用于计算汽车芯片的综合失效率; S3:基于加速因子矩阵、占比系数矩阵和失效率矩阵构建多机理竞争失效矩阵,多机理竞争失效矩阵用于计算所述综合失效率及对应的平均寿命时间以评估其可靠性; 在S2中,基于加速因子和失效率构建对应的加速因子矩阵和失效率矩阵,具体为: 基于热载流子效应加速因子、负偏压温度不稳定性效应加速因子、时间相关的介质击穿效应加速因子和电迁移效应加速因子构建加速因子矩阵,其中,为不同应力条件对应的编号,基于该加速因子矩阵,得到对应的失效率矩阵,该失效率矩阵基于首批次的单失效机理评估试验得到; 在S2中,计算得到占比系数矩阵为基于所述加速因子矩阵和所述失效率矩阵计算占比系数矩阵,该计算具体为; 在S3中,基于加速因子矩阵、占比系数矩阵和失效率矩阵构建的多机理竞争失效矩阵为,其中,为新的批次的编号; 所述综合失效率的计算方式为: 获取预设的热载流子效应权重因子、负偏压温度不稳定性效应权重因子、时间相关的介质击穿效应权重因子和电迁移效应权重因子,基于所述失效率矩阵得到对应的热载流子效应失效率、负偏压温度不稳定性效应失效率、时间相关的介质击穿效应失效率和电迁移效应失效率,综合失效率的计算为: ; 其中,为计算得到的综合失效率。
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