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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;北京理工大学申请的专利一种碟片激光晶体热效应参数的测量装置及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120028025B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510520914.9，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种碟片激光晶体热效应参数的测量装置及测量方法是由陈飞;郝群;姚志焕;陈毅;孙俊杰;韩仁杰;樊皎玉;张新;于晶华;张逸文设计研发完成，并于2025-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种碟片激光晶体热效应参数的测量装置及测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学技术领域，尤其涉及一种碟片激光晶体热效应参数的测量装置及测量方法，测量装置包括第一激光器、透镜组、分光棱镜、定焦透镜、过滤单元、成像单元、标准平面镜以及测量单元；透镜组和分光棱镜沿第一激光器的出光光路方向依次设置第一激光器用于发射探针光，探针光经过透镜组进行扩束和准直，再经过分光棱镜分光，一次透射光形成参考光斑；一次反射光经过标准平面镜反射后，得到二次反射光，测量单元沿二次反射光的光路方向设置；二次反射光镜分光棱镜透射后，经过碟片激光晶体反射原路返回，形成探测光斑；本发明提供的技术方案不仅能够测量待测激光器中碟片激光晶体的热透镜效应的参数，还能够测量热空气楔效应的参数。

本发明授权一种碟片激光晶体热效应参数的测量装置及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种碟片激光晶体热效应参数的测量装置，其特征在于：所述测量装置包括第一激光器、透镜组、分光棱镜、定焦透镜、过滤单元、成像单元、标准平面镜以及测量单元； 所述透镜组和所述分光棱镜沿所述第一激光器的出光光路方向依次设置所述第一激光器用于发射探针光，所述探针光经过所述透镜组进行扩束和准直，再经过所述分光棱镜分光，分别得到一次透射光和一次反射光； 所述定焦透镜、所述过滤单元以及相机沿所述一次透射光的光路方向依次设置，所述标准平面镜沿所述一次反射光的光路方向设置；所述一次反射光经过所述标准平面镜反射后，得到二次反射光，所述测量单元沿所述二次反射光的光路方向设置； 所述一次透射光依次经过所述定焦透镜和所述过滤单元后，成像于所述成像单元，得到的成像光斑为参考光斑； 所述二次反射光向所述分光棱镜传递，经过所述分光棱镜分光，分别得到二次透射光和三次反射光；所述二次透射光经过所述测量单元测量，聚焦于待测激光器中的碟片激光晶体；经过所述碟片激光晶体反射，所述二次透射光原路返回，原路返回后的所述二次透射光再依次经过所述定焦透镜和所述过滤单元后，成像于所述成像单元，得到的成像光斑为探测光斑； 在所述待测激光器的泵浦源工作时，通过调整所述测量单元，使得所述探测光斑与所述参考光斑满足预设条件，根据对应的所述测量单元的属性值，确定所述碟片激光晶体热效应参数；所述预设条件包括所述探测光斑与所述参考光斑重叠，且所述探测光斑与所述参考光斑的直径参数差最小。

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