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龙图腾网获悉爱芯元智半导体(上海)有限公司申请的专利芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114518524B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210102731.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法是由田健飞;王远;唐平设计研发完成，并于2022-01-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法在说明书摘要公布了：本申请提出一种芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法，其中，芯片测试系统包括：芯片和测试机，其中，芯片包括控制器、引脚、数据选择器和测试寄存器；控制器，用于接收测试机发送的模式切换指令，并根据模式切换指令控制数据选择器切换至测试模式；数据选择器，用于在数据选择器切换至测试模式时，控制数据选择器的第一输入端和数据选择器的输出端导通；控制器，还用于接收测试机发送的测试指令，并根据测试指令控制测试寄存器输出测试值；测试机，用于采集引脚的第二端输出的电压，并根据电压和测试指令，生成引脚的第一端的测试结果。由此，能够对芯片的引脚进行测试，且能够在芯片设计阶段引入测试逻辑，提高了测试速度和测试准确率。

本发明授权芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括芯片和测试机，所述芯片和所述测试机相连，其中， 所述芯片包括控制器、引脚、数据选择器和测试寄存器，其中，所述控制器分别与所述数据选择器的控制端和所述测试寄存器的控制端相连，所述数据选择器的第一输入端与所述测试寄存器的输出端相连，所述数据选择器的输出端与所述引脚的第一端相连，所述引脚的第二端与所述测试机相连； 所述控制器，用于接收所述测试机发送的模式切换指令，并根据所述模式切换指令控制所述数据选择器切换至测试模式； 所述数据选择器，用于在所述数据选择器切换至测试模式时，控制所述数据选择器的第一输入端和所述数据选择器的输出端导通； 所述控制器，还用于接收所述测试机发送的测试指令，并根据所述测试指令控制所述测试寄存器输出测试值； 所述测试机，用于采集所述引脚的第二端输出的电压，并根据所述电压和所述测试指令，生成所述引脚的第一端的测试结果； 其中，所述测试指令包括所述测试值，所述测试机，具体用于： 采集所述引脚的第二端输出的电压，并根据所述电压和所述测试值，生成所述测试结果，其中，所述测试值为0或1。

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