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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利一种张量计算的补偿方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115166861B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210568683.5，技术领域涉及：G01V13/00；该发明授权一种张量计算的补偿方法是由林生鑫;潘东华;靳崇渝;王一丁;崔浩;李立毅设计研发完成，并于2022-05-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种张量计算的补偿方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种张量计算的补偿方法，属于基于磁场的目标定位技术领域。将测量空间上三个方向磁场梯度的磁传感器阵列结构称为空间型阵列结构，将测量空间上两个方向磁场梯度的磁传感器阵列结构称为平面型阵列结构，并给出了所有磁传感器阵列结构张量计算的补偿公式。本发明提出了一种张量计算的补偿方法，补偿由于空间坐标系与磁场坐标系不重合导致的张量计算误差，进而减小张量测量和磁目标定位的误差，解决了目前张量计算误差大的问题，可有效地提升张量测量和磁目标定位的精度，无需校正传感器的位置，直接将张量计算误差降低了77.38％，方便且有效。

本发明授权一种张量计算的补偿方法在权利要求书中公布了：1.一种张量计算的补偿方法，其特征在于，所述张量计算的补偿方法包括以下步骤： 磁梯度张量G是磁场矢量B在空间三个方向上的梯度，式1中，Bx、By、Bz是B的三轴分量， 在没有空间电流密度的测量区域，磁场的散度和旋度都为0，张量G是对称和无迹的，即： 此时，G只有5个独立分量，利用这一特点，测量空间上两个方向的磁场梯度也能得到张量，将测量空间上三个方向磁场梯度的磁传感器阵列结构称为空间型阵列结构，将测量空间上两个方向磁场梯度的磁传感器阵列结构称为平面型阵列结构， 定义磁传感器阵列正轴向上的等效测量点为点P，负轴向上的等效测量点为点N，由点N指向点P的空间向量为n，BP、BN分别为点P、N处的磁场矢量，则nX、nY、nZ分别为x、y、z轴上的空间向量，BPx、BPy、BPz分别为x、y、z轴正轴向等效测量点处的磁场矢量，BNx、BNy、BNz分别为x、y、z轴负轴向等效测量点处的磁场矢量， 对于空间型阵列结构，补偿前的张量G1的计算公式为： 利用磁场梯度公式对于补偿后的张量G2有： 则G2的计算公式为： G2＝[BPx-BNxBPy-BNyBPz-BNz][nXnYnZ]-15 按测量的方向将平面型阵列结构分为XY平面型阵列结构、XZ平面型阵列结构、YZ平面型阵列结构， 对于XY平面型阵列结构，利用磁场梯度公式对于补偿后的张量G2有： 结合式2和式6，得到： 其中是空间向量nX的三轴分量，是空间向量nY的三轴分量，利用最小二乘法求解式7即得到补偿后的张量G2， 对于XZ平面型阵列结构，利用磁场梯度公式对于补偿后的张量G2有： 结合式2和式8，得到： 其中是空间向量nZ的三轴分量，利用最小二乘法求解式9即得到补偿后的张量G2， 对于YZ平面型阵列结构，利用磁场梯度公式对于补偿后的张量G2有： 结合式2和式10，得到： 利用最小二乘法求解式11即得到补偿后的张量G2。

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