上海华力微电子有限公司周家民获国家专利权
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龙图腾网获悉上海华力微电子有限公司申请的专利SONOS存储器的光刻返工方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115101403B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210614756.X,技术领域涉及:H01L21/027;该发明授权SONOS存储器的光刻返工方法是由周家民;陈冬;刘政红;齐瑞生;黄冠群;陈昊瑜设计研发完成,并于2022-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本SONOS存储器的光刻返工方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种SONOS存储器的光刻返工方法,包括:提供衬底,所述衬底具有存储区及非存储区,所述衬底上依次形成遂穿氧化层、氮化层及待返工的第一光刻胶层;除去所述第一光刻胶层;在所述氮化层上形成阻挡氧化层;在所述阻挡氧化层上形成第二光刻胶层;以所述第二光刻胶层为掩膜除去所述非存储区上的所述阻挡氧化层及所述氮化层;除去所述第二光刻胶层;同步除去剩余的所述阻挡氧化层及所述非存储区上的遂穿氧化层。在所述第二光刻胶形成之前在所述氮化层上形成所述阻挡氧化层,解决光刻返工后氮化层与第二光刻胶层之间粘附性差的问题,避免后续刻蚀过程中光刻胶剥落对氮化层造成的侧向钻蚀。
本发明授权SONOS存储器的光刻返工方法在权利要求书中公布了:1.一种SONOS存储器的光刻返工方法,其特征在于,包括: 提供衬底,所述衬底具有存储区及非存储区,所述衬底上依次形成遂穿氧化层、氮化层及待返工的第一光刻胶层; 除去所述第一光刻胶层; 在所述氮化层上形成阻挡氧化层; 在所述阻挡氧化层上形成第二光刻胶层; 以所述第二光刻胶层为掩模除去所述非存储区上的所述阻挡氧化层及所述氮化层; 除去所述第二光刻胶层; 同步除去剩余的所述阻挡氧化层及所述非存储区上的所述遂穿氧化层。
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