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龙图腾网获悉上海德拓信息技术股份有限公司申请的专利一种基于瑞利缺陷模型的软件测试质量管控方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115237776B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210873295.8，技术领域涉及：G06F11/3668；该发明授权一种基于瑞利缺陷模型的软件测试质量管控方法与系统是由柏燕;谢赟;葛兵;陈大伟设计研发完成，并于2022-07-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于瑞利缺陷模型的软件测试质量管控方法与系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于瑞利缺陷模型的软件测试质量管控方法与系统，方法包含获取上个迭代的千行代码缺陷率、本次迭代制定的测试计划与测试策略，提取测试计划中的总测试时长t总；软件进入测试阶段时获取本次迭代需求的总代码行数，计算得到可能产生的缺陷数K2；软件测试过程中记录每天真实产生的缺陷数dt和累计产生的缺陷数Dt；获取dt为峰值的一天记为tn，将Dtn输入瑞利缺陷模型计算tn天时产生的缺陷总数K1；若K1小于K2则重新定制测试策略使当日缺陷数达到顶峰的时间后移并更新tn后重新计算K1，直到K1大于等于K2，若K1大于等于K2，将K1与tn代入瑞利缺陷模型得到累积分布函数与概率密度函数。

本发明授权一种基于瑞利缺陷模型的软件测试质量管控方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种基于瑞利缺陷模型的软件测试质量管控方法，其特征在于，包含以下步骤： 步骤1：获取上个迭代的千行代码缺陷率以及本次迭代制定的测试计划与测试策略，提取所述测试计划中的总测试时长记为t总； 步骤2：软件进入测试阶段时，获取本次迭代需求的总代码行数，根据公式K2＝总代码行数1000*千行代码缺陷率计算得到产生的缺陷数记为K2； 步骤3：软件测试过程中，记录每天真实产生的缺陷数记为dt和累计产生的缺陷数记为Dt，其中，t是天数； 步骤4：获取所述dt为峰值的一天记为tn，将Dtn输入至瑞利缺陷模型中计算tn天时产生的缺陷总数记为K1，所述瑞利缺陷模型为K1＝Dtn40％，Dtn为tn天累计产生的缺陷数； 步骤5：判断所述K1与所述K2的大小； 若所述K1小于所述K2，则重新定制所述测试策略使得当日缺陷数达到顶峰的时间后移并更新所述tn后重新计算K1，直到所述K1大于等于所述K2； 若所述K1大于等于所述K2，将所述K1与所述tn代入所述瑞利缺陷模型中得到累积分布函数与概率密度函数； 所述累积分布函数为； 所述概率密度函数为 ， 其中，m为形状参数，m＝2，c是范围参数， ， t是天数，K是所有的缺陷数； 步骤6：将所述t总代入所述累积分布函数和所述概率密度函数中得到测试结束当天预计发现的缺陷数ft总和累计发现的缺陷数Ft总； 步骤7：若所述ft总大于软件项目上使用可接受的缺陷数记为s时，则调整测试策略，增加测试人员，直到Dt总大于等于所述Ft总； 若所述ft总等于所述s时，则测试正常，无需调整测试策略； 若所述ft总小于所述s时，则测试效率提升，减少测试人员。

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