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龙图腾网获悉北京兆维电子(集团)有限责任公司申请的专利一种液晶面板的检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115494659B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210955792.2，技术领域涉及：G02F1/13；该发明授权一种液晶面板的检测方法及系统是由张莲莲;李伟;靳松;陈永超;陈晨;李韦辰设计研发完成，并于2022-08-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种液晶面板的检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种液晶面板的检测方法及系统，检测方法用于实现液晶面板的边缘检测或和缺陷检测；其中，边缘检测包括如下步骤：获取待测液晶面板的测量结果图像；提取测量结果图像的感兴趣区域；获取测量结果图像的感兴趣区域中的角坐标点和或边缘轮廓；根据边缘轮廓测量待测液晶面板的研磨精度，得到研磨精度检测结果；和或，根据边缘轮廓测量待测液晶面板的切割精度，得到切割精度检测结果；和或，根据角坐标点以及边缘轮廓测量待测液晶面板的倒角精度，得到倒角精度检测结果；输出并存储研磨精度检测结果和或切割精度检测结果和或倒角精度检测结果；本发明提高了边缘检测与缺陷检测的效率和检测结果的稳定性。

本发明授权一种液晶面板的检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种液晶面板的检测方法，其特征在于，所述检测方法用于实现液晶面板的边缘检测或和缺陷检测；其中，所述边缘检测包括如下步骤： 获取待测液晶面板的测量结果图像； 提取所述测量结果图像的感兴趣区域； 获取所述测量结果图像的感兴趣区域中的角坐标点和或边缘轮廓； 根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，得到研磨精度检测结果；和或，根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的切割精度，得到切割精度检测结果；和或，根据所述角坐标点以及所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的倒角精度，得到倒角精度检测结果； 输出并存储所述研磨精度检测结果和或切割精度检测结果和或倒角精度检测结果； 根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，得到研磨精度检测结果，具体包括如下步骤： 基于阈值分割法，获取所述测量结果图像的二值图像； 基于直线拟合法，根据所述待测液晶面板的边缘轮廓获取所述测量结果图像的二值图像中所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线； 计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线之间的距离，得到研磨宽度值； 计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线之间的面积，得到研磨面积值； 计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线所对应的矩形区域的矩形度，得到研磨矩形度值； 计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线之间区域的高度，得到研磨高度值； 其中，所述研磨精度检测结果包括所述研磨宽度值、所述研磨面积值、所述研磨矩形度值以及所述研磨高度值。

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